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龙图腾网获悉中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所申请的专利一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114462183B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111356847.X，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法是由李占领设计研发完成，并于2021-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法在说明书摘要公布了：本发明属于电子产品测试性设计技术领域，具体涉及一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，将电子装备系统状态由传统的二状态假定“正常”和“硬故障”转变为三状态假定“正常”“间歇”和“硬故障”，其中“间歇”状态又包括“间歇故障”和“间歇恢复”两个子状态。根据电子产品嵌入式测试BIT序列，利用本发明的方法，对系统状态进行判定。能在实现电子产品状态评估的同时，识别出间歇状态，有效提高了电子产品状态评估性能，降低了使用过程中的BIT虚警率。

本发明授权一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法在权利要求书中公布了：1.一种电子产品间歇状态识别与BIT防虚警方法，其特征在于，包括以下步骤： S101建立被测单元的状态转换模型；所述模型的状态包括：正常状态、间歇状态以及硬故障状态；所述间歇状态包括间歇故障状态和间歇恢复状态； S102被测单元的间歇状态识别： S102.1默认被测单元初始为正常状态，对被测单元进行持续的电子产品嵌入式测试BIT监控，得到判断结果，判断结果为正常状态下的时间序列：XNorm＝[x1,x2,…,xN]； S102.2根据所述时间序列得到P0和P1；若P1减小到设定的阈值，则被测单元进入间歇状态； S103被测单元的状态评估与虚警抑制： S103.1当被测单元进入间歇状态后，获取多个电子产品嵌入式测试样本，多次评估后得到P0和P1的更精确估值； S103.2持续进行K0或K1次电子产品嵌入式测试记录，得到间歇状态下的时间序列Xintm＝[x1,x2,…,xN]，利用时间序列Xintm对P0和P1进行估计和校正； S103.3基于状态转换模型的定义进行状态评估； S103.4在间歇故障状态与间歇恢复状态之间切换时，将当前K0i或K1j次电子产品嵌入式测试数据补充至时间序列Xintm，同时利用补充后的Xintm重新估计P0和P1； S103.5重复所述S103.3和S103.4，直至UUT退出间歇状态或所述被测单元任务执行结束； 其中： P0：为间歇恢复状态转移到间歇故障状态的概率； P1：为间歇故障状态转移到间歇恢复状态的概率； PK：状态转移的置信度； K0：在概率P0和置信度PK下，判定间歇故障状态转移到间歇恢复状态需要的电子产品嵌入式测试次数； K1：在概率P1和置信度PK下，判定间歇故障状态转移到间歇恢复状态需要的电子产品嵌入式测试次数； 在所述S103.3与所述S103.4之间还包括： S201当处于间歇状态时，记录间歇故障和间歇恢复的发生概率P0和P1，用于所述被测单元的使用者评估继续使用风险； 所述S103.5还用于重复所述S201。

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