格芯(美国)集成电路科技有限公司卞宇生获国家专利权
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龙图腾网获悉格芯(美国)集成电路科技有限公司申请的专利具有间距不同的衍射光栅的光电检测器阵列获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114512501B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111304063.2，技术领域涉及：H10F39/12；该发明授权具有间距不同的衍射光栅的光电检测器阵列是由卞宇生;S·P·阿杜苏米利;M·D·莱维设计研发完成，并于2021-11-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本具有间距不同的衍射光栅的光电检测器阵列在说明书摘要公布了：本公开涉及一种具有间距不同的衍射光栅的光电检测器阵列。一种光电检测器阵列包括：衬底；以及位于衬底上方的像素阵列。每个像素包括直接位于半导体光电检测器上的一组衍射光栅。与像素阵列中的每个像素相关联的一组衍射光栅的间距是不同的，使得每个像素能够检测到与像素阵列中的其他像素不同的特定波长的光。可以在锗光电检测器下方的衬底中设置空气腔以改善光吸收。还公开了一种形成光电检测器阵列的方法。
本发明授权具有间距不同的衍射光栅的光电检测器阵列在权利要求书中公布了：1.一种光电检测器阵列结构，包括： 衬底； 位于所述衬底上方的像素阵列，每个像素包括直接位于半导体光电检测器上的一组衍射光栅；以及 位于至少一个半导体光电检测器下方的所述衬底中的空气腔， 其中与所述像素阵列中的每个像素相关联的所述一组衍射光栅的间距是不同的，使得每个像素能够检测到与所述像素阵列中的其他像素不同的特定波长的光。
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