IPG光子公司乔丹·A·坎科获国家专利权
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龙图腾网获悉IPG光子公司申请的专利校准系统和用于校准相干成像测量系统的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115397603B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180029108.1，技术领域涉及：B23K26/03；该发明授权校准系统和用于校准相干成像测量系统的方法是由乔丹·A·坎科;陈慧琪;莫门·Y·莫门;保罗·J·L·韦伯斯特设计研发完成，并于2021-04-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本校准系统和用于校准相干成像测量系统的方法在说明书摘要公布了：用于静态和动态校准的系统和方法可以被用于提供来自相干成像CI测量系统的测量束相对于来自材料加工系统的加工束的对准。在这些系统和方法中，可以从所述CI测量系统和或从辅助传感器获得校准测量输出。由所述CI测量系统执行的未来测量可以至少部分地基于所述校准测量输出来修改。
本发明授权校准系统和用于校准相干成像测量系统的方法在权利要求书中公布了：1.一种校准系统，包括： 材料加工系统，所述材料加工系统包括用于生成加工束的加工束源和用于将所述加工束传送到目标的加工束头； 相干成像测量系统，所述相干成像测量系统包括用于生成测量束并且用于产生干涉测量输出的相干成像核心单元以及用于将所述测量束传送到所述目标的相干成像扫描模块，其中，所述相干成像测量系统使用所述干涉测量输出产生相干成像测量输出并且还使用由所述相干成像测量系统中的检测提供的对比机制产生校准测量输出；和 至少一个控制器，所述至少一个控制器被配置成从所述相干成像核心单元接收所述相干成像测量输出，以用于监测和或控制所述材料加工系统，其中，所述控制器还被配置成从所述相干成像测量系统接收所述校准测量输出，并且被配置成至少部分地基于从所述相干成像测量系统接收的所述校准测量输出而控制所述相干成像测量系统，其中，所述控制器被配置成基于从所述相干成像测量系统接收的所述校准测量输出控制所述相干成像测量系统，以修改由所述相干成像测量系统进行的未来测量，以用于所述相干成像测量系统和所述加工束的对准。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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