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纳峰真空镀膜(上海)有限公司唐智获国家专利权

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龙图腾网获悉纳峰真空镀膜(上海)有限公司申请的专利一种用于圆柱靶的测量装置及测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN112731229B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011594035.4,技术领域涉及:G01R33/10;该发明授权一种用于圆柱靶的测量装置及测量方法是由唐智;徐长亮设计研发完成,并于2020-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于圆柱靶的测量装置及测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于圆柱靶的测量装置,包括:支撑机构,其被配置为能够提供使圆柱靶保持水平的可转动支撑;第一驱动模组,其被配置为能够驱动使所述圆柱靶在所述支撑机构上作轴向转动;第二驱动模组,其被配置为能够携带检测单元作相对于所述圆柱靶的多轴运动,以对所述圆柱靶进行测量。本发明能够快速判断出圆柱靶的外观尺寸及磁场强度是否合格,并能对圆柱靶的磁场强度分布作出准确的立体反映,采集的数据稳定,采集数据多,数据准确,适于推广。本发明还公开了一种用于圆柱靶的测量方法。

本发明授权一种用于圆柱靶的测量装置及测量方法在权利要求书中公布了:1.一种用于圆柱靶的测量方法,其特征在于,包括: 步骤01:将圆柱靶水平放置,并沿其轴向定义一测量区间; 步骤02:利用一测距单元,将其置于所述圆柱靶的一侧,并位于与测量区间的起点对应的位置上,以该位置为坐标原点,建立一空间直角坐标系; 步骤03:使所述测距单元沿空间直角坐标系的y轴向垂直移动,获取所述圆柱靶侧面上相距所述测距单元最近的第一点的坐标位置,以及所述第一点与所述测距单元之间的第一距离; 步骤04:将所述测距单元沿空间直角坐标系的z轴向平移至一预定坐标,使所述测距单元沿空间直角坐标系的y轴向垂直移动,获取所述圆柱靶侧面上相距所述测距单元最近的第二点的坐标位置,以及所述第二点与所述测距单元之间的第二距离; 步骤05:重复步骤04,直至获取所述圆柱靶侧面上相距所述测距单元最近的第N点的坐标位置,以及所述第N点与所述测距单元之间的第N距离;其中,第N点的坐标位置与测量区间的终点对应,N为正整数; 步骤06:根据所述第一点和所述第N点的坐标位置,得到所述圆柱靶在所述测量区间上的第一斜率,根据所述第二点至所述第N-1点的坐标位置中与所述第一斜率之间的距离最大值,得到所述圆柱靶的第一直线度; 步骤07:使所述测距单元返回至与所述第一点对应的坐标位置,利用一磁场强度检测单元,将其定位于所述测距单元一侧,并调整使所述磁场强度检测单元与所述圆柱靶侧面保持一第一感应距离; 步骤08:将所述磁场强度检测单元移动至与所述第一点对应的坐标位置,并使所述圆柱靶旋转一周,得到与检测到的所述圆柱靶侧面上磁场强度峰值对应的所述圆柱靶的峰值转动角; 步骤09:将所述圆柱靶旋转至所述峰值转动角,使所述磁场强度检测单元沿所述第一斜率方向移动,对所述测量区间之间的所述圆柱靶侧面上的所述第一点至所述第N点的磁场强度进行扫描测量,得到沿所述圆柱靶轴向的第一磁场强度分布;其中测量时,根据第一距离至第N距离,调整使所述磁场强度检测单元与所述圆柱靶侧面保持所述第一感应距离进行测量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人纳峰真空镀膜(上海)有限公司,其通讯地址为:201700 上海市青浦区青浦工业园区华纺路99弄99号2幢1层A区;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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