中国科学院上海技术物理研究所赵鹏玮获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111458111B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010446277.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统是由赵鹏玮;郑列华设计研发完成，并于2020-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统。检验光学系统由激光干涉仪和自准校正透镜组组成。自准校正透镜组位于待检凹非球面反射镜的共轭后点前。激光干涉仪出射的光线经过自准校正透镜的折射成像在待检凹非球面反射镜的共轭后点。经待检反射镜反射后光线成像在待检凹非球面的共轭前点。反射光线经过自准校正透镜组折射，在远离待检凹非球面反射镜的表面自准反射，按原路返回干涉仪。本发明的优点在于：该光学系统可以实现超大口径以及超大相对孔径凹非球面反射镜的高精度检验。同时，光学系统的光路长度较短，自准校正透镜组的口径较小，便于加工及装调。
本发明授权一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统在权利要求书中公布了：1.一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统，系统由激光干涉仪1，自准校正透镜组2组成，其特征在于: 光线从所述的激光干涉仪1发出，经过透镜组2，入射到待检凹非球面反射镜上，经过待检凹非球面反射镜的反射，入射到自准校正透镜组2；光线经自准校正透镜组2上反射膜自准反射后，光线按原路返回至激光干涉仪1；待检凹非球面反射镜的入射和出射光线分别经过其共轭后点和共轭前点，自准校正透镜组2位于共轭后点前; 所述的自准校正透镜组2的光焦度为正，由两片贴合的透镜组成，分别为负透镜和正透镜，自准校正透镜与待检凹非球面反射镜的口径比不大于0.1；自准校正透镜组2中靠近激光干涉仪1的第一个透镜表面镀环形反射膜，中心留有供激光干涉仪1检验光束进出的圆孔。
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