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龙图腾网获悉山东理工大学申请的专利基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120253712B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510740585.9，技术领域涉及：G01N21/27；该发明授权基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法是由张起;张兴南设计研发完成，并于2025-06-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法，属于缺陷检测技术领域，包括以下步骤：获取待检测光学材料的高光谱图像特征参数，基于高光谱图像特征参数确定是否存在缺陷；若不存在缺陷，则检测结束；若存在缺陷，则确定初步缺陷区域以及缺陷类型；获取初步缺陷区域的拉曼光谱特征参数，并基于拉曼光谱特征参数确定最终缺陷区域；在最终缺陷区域进行太赫兹光谱深度扫描，得到太赫兹光谱特征参数，并构建缺陷深度信息图谱；基于高光谱图像特征参数、拉曼光谱特征参数和太赫兹光谱特征参数进行缺陷深度反演，得到缺陷深度预测结果。本发明解决了传统方法难以准确检测光学材料内部缺陷深度的问题，具有高精度、全面性和适应性。

本发明授权基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法在权利要求书中公布了：1.基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取待检测光学材料的高光谱图像特征参数，基于高光谱图像特征参数确定是否存在缺陷； 若不存在缺陷，则检测结束； 若存在缺陷，则确定初步缺陷区域以及缺陷类型； 获取初步缺陷区域的拉曼光谱特征参数，并基于拉曼光谱特征参数确定最终缺陷区域，包括以下步骤： 基于拉曼光谱仪对初步缺陷区域进行拉曼光谱扫描，得到各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱数据； 对各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱数据进行特征处理，得到各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱特征参数； 基于各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱特征参数确定初步缺陷区域的分子结构组成：将各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱特征参数与已知的分子振动模式数据库逐一比对，确定每个坐标点缺陷区域的分子结构组成；应力-拉曼位移关联公式为，为拉曼位移，为应力系数，为应力； 确定各个缺陷坐标点应力作用前后拉曼峰位的差值，记为拉曼位移，基于应力-拉曼位移关联公式确定初步缺陷区域的应力分布； 基于初步缺陷区域的分子结构组成和应力分布确定机器学习模型； 将各个缺陷坐标点对应的拉曼光谱特征参数作为机器学习模型的输入，输出各个缺陷坐标点属于缺陷类型的概率值，将概率值大于概率阈值的缺陷坐标点记为最终缺陷区域坐标点； 将所有的最终缺陷区域坐标点连通，确定最终缺陷区域； 在最终缺陷区域进行太赫兹光谱深度扫描，得到太赫兹光谱特征参数，并构建缺陷深度信息图谱； 基于高光谱图像特征参数、拉曼光谱特征参数和太赫兹光谱特征参数进行缺陷深度反演，得到缺陷深度预测结果。

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