杭州鼎能光电科技有限公司郭家俊获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州鼎能光电科技有限公司申请的专利一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120252511B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510698549.0,技术领域涉及:G01B11/00;该发明授权一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法是由郭家俊;徐灵炜设计研发完成,并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法,涉及激光切割定位技术领域,包括,将钙钛矿薄膜样品平整固定在激光切割平台上;使用分光仪对未切割钙钛矿薄膜表面进行扫描,记录每个区域的光谱反射率分布,基于光谱反射率数据生成未切割钙钛矿薄膜的光谱特征基准图;启动激光切割器对钙钛矿薄膜进行切割,利用分光仪采集钙钛矿薄膜表面切割区域及其周围的光谱反射率数据;将光谱反射率数据与光谱特征基准图进行对比计算,识别切割区域与未切割区域的光谱差异,生成光谱差异图;计算激光切割器的偏移量,并根据偏移量对切割路径进行动态调整;切割完成后进行质量检测,输出最终钙钛矿薄膜样品和切割数据,切割完成后,再次扫描钙钛矿薄膜表面。
本发明授权一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法在权利要求书中公布了:1.一种钙钛矿薄膜激光切割定位方法,其特征在于:包括: 将钙钛矿薄膜样品平整固定在激光切割平台上; 使用分光仪对未切割钙钛矿薄膜表面进行扫描,记录每个区域的光谱反射率分布,基于光谱反射率数据生成未切割钙钛矿薄膜的光谱特征基准图; 启动激光切割器对钙钛矿薄膜进行切割,利用分光仪采集钙钛矿薄膜表面切割区域及其周围的光谱反射率数据; 将光谱反射率数据与光谱特征基准图进行对比计算,识别切割区域与未切割区域的光谱差异,生成光谱差异图; 根据光谱差异图,计算激光切割器的偏移量,并根据偏移量对切割路径进行动态调整,具体步骤如下, 对比光谱差异图与目标切割路径,确定切割器的实际位置与目标路径的偏移量,偏移量的计算公式为:; 其中,表示激光切割器在采样点坐标计算出的偏移量,表示第个采样点在时间归一化后的光谱反射率变化率,表示采样点的索引变量,表示采样点总数,表示第个采样点到目标切割路径的垂直距离; 当为正数时,激光切割路径偏向未切割区域,向未切割区域移动; 当为负数时,激光切割路径偏向已切割区域,向已切割区域内调整; 当为零时,激光切割路径准确位于目标路径,无需调整; 根据偏移量,动态调整激光切割路径,使其回到目标路径上,并继续切割操作; 切割完成后,记录所有采样点的光谱反射率变化率和切割路径数据,并生成切割区域的光谱反射率变化特性图; 切割完成后进行质量检测,输出最终钙钛矿薄膜样品和切割数据,切割完成后,再次扫描钙钛矿薄膜表面,生成最终的光谱反射率数据; 将最终的光谱反射率数据与光谱基准反射率值对比,确认切割区域是否完全覆盖目标路径,当出现切割偏差时,则重新启动设备进行补充切割。
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