上海维安半导体有限公司苗春强获国家专利权
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龙图腾网获悉上海维安半导体有限公司申请的专利一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120012442B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510473831.9，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法及系统是由苗春强;游丹;路建通;王施敏设计研发完成，并于2025-04-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法及系统，涉及仿真验证技术领域，包括：在硬件环境中基于随机变量和硬件约束条件生成随机激励存储至被验证设备中；被验证设备的MCU调取存储的随机激励并添加软件约束条件，随后将软件约束后的随机激励用作于随机仿真得到仿真结果；硬件环境读取软件约束后的随机激励产生期望结果，在比较期望结果和仿真结果不一致时输出警示信息完成随机验证。有益效果是可以模拟出各种可能的时序关系，从而确保验证过程能够覆盖到更多的场景和情况，提高验证的全面性。从而大大增强了随机化的能力；可以兼容现有的任一MCU验证平台，不会对现有验证环境造成影响，只是对现有验证环境功能的扩展。
本发明授权一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种通用MCU验证平台的系统级随机验证方法，其特征在于，包括： 步骤S1，在硬件环境中基于随机变量和硬件约束条件生成随机激励存储至被验证设备中； 步骤S2，所述被验证设备的MCU调取存储的所述随机激励并添加软件约束条件，随后将软件约束后的所述随机激励用作于随机仿真得到仿真结果； 步骤S3，所述硬件环境读取软件约束后的所述随机激励产生期望结果，在比较所述期望结果和所述仿真结果不一致时输出警示信息以完成随机验证; 所述步骤S1包括： 步骤S11，在所述硬件环境中根据所述随机变量生成初始随机激励； 步骤S12，在所述硬件环境中根据所述硬件约束条件对所述初始随机激励进行范围限定，和或数值剔除以完成约束得到所述随机激励存储至所述被验证设备。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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