苏州鼎利纳米科技有限公司杜斌获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州鼎利纳米科技有限公司申请的专利一种基于视觉监测的涂层厚度检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119934990B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510013265.3，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种基于视觉监测的涂层厚度检测系统及方法是由杜斌;卢军;陈扬设计研发完成，并于2025-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于视觉监测的涂层厚度检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于视觉监测的涂层厚度检测系统及方法，涉及视觉监测技术领域，包括通过几何光学对涂层厚度进行初步预测；基于预处理后的涂层表面图像和初步预测值，通过多通道神经网络，进行涂层厚度预测；根据涂层预测的厚度，进行瑕疵识别与评估，生成最终的涂层厚度与瑕疵综合评估结果；通过瑕疵综合评估结果，进行实时反馈。本发明通过实时采集涂层表面图像并进行预处理，结合几何光学进行初步厚度预测，通过多通道神经网络进行精确的涂层厚度预测，显著提高了预测的精度和自适应能力。通过瑕疵识别与评估模块，综合考虑涂层表面瑕疵的类型、形状、复杂度和位置，精准识别并定量评估涂层瑕疵，从而提升了瑕疵检测的准确性和鲁棒性。
本发明授权一种基于视觉监测的涂层厚度检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于视觉监测的涂层厚度检测方法，其特征在于：包括， 实时采集涂层表面图像，并对采集的涂层表面图像进行预处理； 通过几何光学对涂层厚度进行初步预测，具体步骤如下， 选择反射法作为计算方式，利用涂层的光学反射系数和入射光角度进行厚度推算，在涂层表面接收反射光强度，测量反射光强度与入射光强度的比值，得到反射率； 基于几何光学原理，初步预测涂层厚度，表达式为： ； 其中，H为初步预测涂层厚度，λ为光波的波长，R为反射率； 基于预处理后的涂层表面图像和初步预测值，通过多通道神经网络，进行涂层厚度预测； 根据预测的涂层厚度，进行瑕疵识别与评估，生成最终的涂层厚度与瑕疵综合评估结果； 通过瑕疵综合评估结果，进行实时反馈。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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