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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种微显示器件电路区缺陷检测的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119359721B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411920737.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种微显示器件电路区缺陷检测的方法、装置及存储介质是由张景程;杨硕设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微显示器件电路区缺陷检测的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种微显示器件电路区缺陷检测的方法、装置及存储介质，用于提高含电路区的显示屏图像的屏体缺陷检测精度。通过飞拍相机对待测显示屏进行拍摄，采集所述待测显示屏的电路区图像；对所述电路区图像进行复制，生成第一电路区图像和第二电路区图像；对所述第一电路区图像进行灰度膨胀处理，生成第一模板；对所述第二电路区图像进行灰度腐蚀处理，生成第二模板；根据预设的电路区限样图分别对所述第一模板和所述第二模板进行电路缺陷区域的检测，生成电路暗缺陷区域和电路亮缺陷区域；对所述电路暗缺陷区域和所述电路亮缺陷区域进行缺陷识别检测，生成电路区域缺陷数据。

本发明授权一种微显示器件电路区缺陷检测的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种微显示器件电路区缺陷检测的方法，其特征在于，包括： 通过飞拍相机对待测显示屏进行拍摄，采集所述待测显示屏的电路区图像； 对所述电路区图像进行复制，生成第一电路区图像和第二电路区图像； 对所述第一电路区图像进行灰度膨胀处理，生成第一模板； 对所述第二电路区图像进行灰度腐蚀处理，生成第二模板； 根据预设的电路区限样图分别对所述第一模板和所述第二模板进行电路缺陷区域的检测，生成电路暗缺陷区域和电路亮缺陷区域； 根据预设的电路区限样图分别对所述第一模板和所述第二模板进行电路缺陷区域的检测，生成电路暗缺陷区域和电路亮缺陷区域，包括：获取暗缺陷补偿值和亮缺陷补偿值；根据预设的暗缺陷阈值下限、暗缺陷阈值上限、电路区限样图、所述第一模板和所述暗缺陷补偿值进行逐像素点分割，生成电路暗缺陷区域；根据预设的亮缺陷阈值下限、亮缺陷阈值上限、电路区限样图、所述第二模板和所述亮缺陷补偿值进行逐像素点分割，生成电路亮缺陷区域； 对所述电路暗缺陷区域和所述电路亮缺陷区域进行缺陷识别检测，生成电路区域缺陷数据； 获取暗缺陷补偿值和亮缺陷补偿值，包括： 将预设的电路区限样图进行复制，并分别进行灰度膨胀处理和灰度腐蚀处理，生成第三模板和第四模板；获取所述第一模板、所述第二模板、所述第三模板和所述第四模板的灰度均值，生成第一灰度均值、第二灰度均值、第三灰度均值和第四灰度均值；获取暗缺陷灰度参数和亮缺陷灰度参数，首先对每一个电路区暗缺陷亮缺陷的灰度值范围进行居中平均处理，生成每一个电路区暗缺陷亮缺陷的灰度中值，再将所有的暗缺陷亮缺陷的灰度中值进行平均值计算，生成暗缺陷灰度参数亮缺陷灰度参数；通过所述第一灰度均值、所述第三灰度均值和所述暗缺陷灰度参数生成暗缺陷补偿值；通过所述第二灰度均值、所述第四灰度均值和所述亮缺陷灰度参数生成亮缺陷补偿值。

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