深圳市卓碳新材料有限公司唐运珩获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉深圳市卓碳新材料有限公司申请的专利一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118969146B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411001411.2,技术领域涉及:G16C60/00;该发明授权一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法是由唐运珩;贾义恩设计研发完成,并于2024-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,涉及纳米材料的技术领域,通过对待检测纳米材料进行预处理和区域分割,确保样品的均匀性和代表性,减少样品不均匀性对评估结果的影响,通过选择n组簇中心并结合密度评估数据集合,确定每个簇中心内纳米颗粒的数量Nks,并根据各簇中心内纳米颗粒的相对丰度Xdfd构建颗粒分布系数Kfxs,有效评估纳米颗粒的分布状态;通过特征提取获取待检测样本的有效表面积及孔隙率,并结合这两个参数构建结构状态系数Jzxs,从多维度评价纳米材料的结构特性和分布状态。通过训练后的模型计算获取待检测样本的总体密度分布评估指数Zmzs,确保模型具有较高的预测准确性和泛化能力。
本发明授权一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法在权利要求书中公布了:1.一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:包括以下步骤, S1、预先对待检测纳米材料进行清洗作业,并对清洗后的待检测纳米材料进行区域分割,以获取若干组待检测样本; S2、分别对若干组待检测样本进行相关结构数据及相关颗粒状态数据的采集,以构建密度评估数据集合,并将密度评估数据集合内相关数据进行数据预处理,结合无量纲处理技术,将数据预处理后的相关数据进行单位统一化; S3、预先选择n组簇中心,并结合密度评估数据集合,确定每个簇中心内纳米颗粒数量Nks,根据每个簇中心内纳米颗粒数量Nks,获取各簇中心内纳米颗粒的相对丰度Xdfd,依据各簇中心内纳米颗粒的相对丰度Xdfd及相关颗粒状态数据,构建颗粒分布系数Kfxs; S3具体步骤包括: S31、预先选择n组簇中心,依据S212步骤中的纳米颗粒尺寸信息单元,将纳米颗粒尺寸信息单元内的每个纳米颗粒尺寸初步分配至每组簇中心内,以计算每个纳米颗粒尺寸到所有簇中心的距离,其中每组簇中心表示为每个簇内纳米颗粒的平均尺寸,且每个簇内纳米颗粒的平均尺寸为初步随机设定; S311、使用欧氏距离算法,计算每个纳米颗粒尺寸到所有簇中心的距离,以尺寸为a的纳米颗粒到第b组簇中心的距离Jza,b为例,其具体通过以下方式获取: S32、根据计算出的每个纳米颗粒尺寸到所有簇中心的距离,将每个纳米颗粒尺寸分配到最近的簇中心,以计算每个簇中所有纳米颗粒尺寸的均值,并将当前计算的每个簇中所有纳米颗粒尺寸的均值作为新的簇中心; S33、重复S31步骤及S32步骤,直到预先选择的n组簇中心不再发生变化,停止重复作业,获取最终的簇中心,最终确定每个簇中心内纳米颗粒数量Nks; S4、通过将所述相关结构数据进行特征提取后,获取待检测样本的有效表面积Yxmd及孔隙率Kxz,依据所述有效表面积Yxmd及所述孔隙率Kxz,获取结构状态系数Jzxs,通过将颗粒分布系数Kfxs及结构状态系数Jzxs做无量纲处理后,结合经训练后的分布预测模型,计算获取待检测样本的总体密度分布评估指数Zmzs; S5、预先设置评估阈值P,并将所述评估阈值P与所述总体密度分布评估指数Zmzs进行比对分析,以评估出当前纳米材料的密度分布状态情况,并根据相应的密度分布状态情况发出相应的预警命令。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市卓碳新材料有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区京基御景时代大厦2栋2001;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。