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龙图腾网获悉北京智芯微电子科技有限公司申请的专利测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118535397B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410484618.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质是由王青权;郭飞;姜帆;李滕浩;杜君;孟伟;范乃冲;陈建卫;段永亮;徐可;陈泳鑫设计研发完成，并于2024-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开涉及核心板检测领域，具体涉及一种测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质。根据本公开实施例提供的技术方案，通过在配置文件中定义针对不同类型核心板配置的多种测试方案，并在测试程序启动时将该配置文件定义的测试方案导入到测试系统中，在对待测核心板进行测试时，根据与待测核心板绑定的测试方案ID找到对应的测试方案，并使用该测试方案对待测核心板进行测试，测试流程按照测试方案内容自动进行，一方面，由于避免了测试过程中的人工操作，从而提高了测试的准确性，另一方面，实现了不用对测试程序进行修改只需通过一份测试程序执行多个测试方案的策略即可对不同类型或同种类型的待测核心板使用不同方案进行测试的技术目的，提高了测试程序的复用性。另外，用户可以根据需要增加、删除、修改描述文件中的测试方案的相关内容，从而提高了测试软件的灵活性和扩展性。

本发明授权测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种用于核心板的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：上位机和测试工装；所述上位机上装载有第一测试程序，所述测试工装包括控制板，所述控制板上装载有第二测试程序；所述上位机通过一个或多个测试工装分别对应与一个或多个待测核心板通信连接； 当所述第一测试程序启动时，所述上位机通过所述第一测试程序导入一个或多个第一配置文件；其中，所述第一配置文件用于定义测试方案的具体内容，所述第一配置文件包括测试方案的描述参数和一个或多个测试项，所述描述参数包括测试方案ID，所述测试项包括测试命令； 所述上位机通过所述第一测试程序根据所述第一配置文件生成测试方案集合，所述测试方案集合中的测试方案的测试方案ID互不相同； 所述上位机通过所述第一测试程序创建对应于所述一个或多个测试工装的一个或多个测试工装实例，其中，每个测试工装实例对各自所对应的待测核心板的测试操作是独立并行执行的； 在各测试工装实例中执行对待测核心板的测试操作，所述对待测核心板的测试操作包括：获取与当前测试工装连接的待测核心板的测试方案ID；根据所述测试方案ID在所述测试方案集合中查找与其对应的测试方案；将查找到的所述测试方案的测试项中的测试命令发送给所述当前测试工装，以便通过所述当前测试工装对所述待测核心板进行测试； 所述测试工装被设置为在与所述上位机建立通信连接后，通过所述控制板接收所述上位机发送的测试命令，并根据所述测试命令并利用所述第二测试程序对所述待测核心板进行测试。

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