买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉南京航空航天大学申请的专利一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116539730B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310652578.4，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法是由蔡建;周智权;余晓东;姚晓增;费伟民设计研发完成，并于2023-06-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法，包括以下步骤：S1、获取完备波数曲线集；S2、得到频散补偿损伤散射信号数据库；S3、将待监测各向异性结构中各点均视为潜在损伤点，从频散补偿损伤散射信号数据库中查询，得到与其中任意一点最匹配的频散补偿结果并计算该点的像素值；S4、循环执行步骤S3，直至完成待监测各向异性结构上待监测区域所有点的像素值计算。本发明采用上述一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法，通过中心频率处的波数差寻优，从数据库中提取出潜在损伤路径的匹配频散补偿结果，避免了在计算每个潜在损伤点像素值时都进行一次频散补偿处理。

本发明授权一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法在权利要求书中公布了：1.一种面向各向异性频散结构的高精度快速损伤成像方法，其特征在于：包括以下步骤： S1、获取在待监测各向异性结构中各传播方向上的完备波数曲线，即完备波数曲线集； S2、基于完备波数曲线集得到不同方向对应下的频散补偿损伤散射信号数据库； 步骤S2所述的频散补偿损伤散射信号数据库中的损伤散射信号经稀疏压电-导波阵列采集； 其具体包括以下步骤： 在稀疏压电-导波阵列中，依次选择一个压电片作为激励器，将阵列中其它压电片作为传感器，分别采集健康和损伤下状态结构中各压电片对的传感信号，并进行作差处理，得到各压电片对的损伤散射信号，其中，表示以第个压电片作为激励器，以第个压电片作为传感器组成的压电片对，且，为时间变量；表示压电片的数量； 步骤S2具体包括以下步骤： S21、波数曲线集线性化： 以完备波数曲线集中的波数曲线作为先验知识，并根据公式进行线性化，得到线性化后的波数曲线集，其中为角频率，为超声导波信号的中心角频率，为所选模式在下的群速度，为插值后等间隔的方向； S22、计算插值映射序列集： 按照函数计算出插值映射序列集，其中为的逆函数，和分别为波数曲线集和在同一方向下的波数曲线； S23、对频散的损伤散射信号进行傅里叶变换得到，并按照对进行频域插值处理得到，即为基于波数曲线集的频域插值结果； S24、对进行逆傅里叶变换得到频散补偿后的损伤散射信号数据库； S3、将待监测各向异性结构中各点均视为潜在损伤点，从频散补偿损伤散射信号数据库中查询，得到与其中任意一点最匹配的频散补偿结果并计算该点的像素值； 步骤S3具体包括以下步骤： S31、将待监测各向异性结构中各点均视为潜在的损伤点，并根据其中任意一点与各压电片对的位置，计算得到潜在损伤散射路径的综合波数曲线； S311、设在待监测各向异性结构中存在一任意潜在损伤点，其中和分别为点损伤的横坐标与纵坐标，且，，为设定的损伤成像区域，下标为潜在损伤点的序号，且； S312、根据点及各压电片对的位置，计算潜在损伤散射路径的综合波数曲线： ； 其中、和分别为激励压电片到潜在损伤散射点信号的传播方向、路径长度及波数曲线，、和分别为潜在损伤散射点到传感压电片的信号传播方向、路径长度及波数曲线； S32、从损伤散射信号数据库中查询得到与综合波数曲线最匹配的频散补偿损伤散射信号，并计算该点的像素值； S4、循环执行步骤S3，直至完成待监测各向异性结构上待监测区域所有点的像素值计算，即可得到高分辨率损伤成像结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京航空航天大学，其通讯地址为：210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。