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龙图腾网获悉中国科学院新疆理化技术研究所申请的专利光电成像器件辐射损伤的分类方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116310512B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310106275.2，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权光电成像器件辐射损伤的分类方法、装置、设备及介质是由文林;赵子韬;李豫东;周东;冯婕;施炜雷;郭旗设计研发完成，并于2023-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本光电成像器件辐射损伤的分类方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类方法，应用于图像传感器检测技术领域，包括：获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据，对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值，得到样条插值结果，对样条插值结果取切比雪夫零点，对切比雪夫零点进行拉格朗日插值，得到暗电流演变的多项式结果并将暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线，对于每两个不同的像素，分别将每两个不同的像素的暗电流演变曲线绘制于预设坐标系中，得到曲线绘制结果，根据曲线绘制结果，得到光电成像器件辐射损伤的像素级分类结果。本公开还提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类装置、电子设备及存储介质。

本发明授权光电成像器件辐射损伤的分类方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种光电成像器件辐射损伤的分类方法，其特征在于，包括： 获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据，包括在所述不同退火时间下，对辐照后的所述光电成像器件进行暗场的图像采集，得到多张暗场图像；计算不同积分时间下所述暗场图像每个像素的平均灰度值；以所述积分时间为自变量，所述平均灰度值为因变量，计算曲线斜率，所述曲线斜率为所述每个像素对应的暗电流； 对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值，得到样条插值结果； 对所述样条插值结果取切比雪夫零点； 对所述切比雪夫零点进行拉格朗日插值，得到暗电流演变的多项式结果并将所述暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线； 对于每两个不同的像素，分别将所述每两个不同的像素的暗电流演变曲线绘制于所述预设坐标系中，得到曲线绘制结果，包括：将目标像素和所有另一像素的暗电流演变曲线绘制于所述坐标系中，所述另一像素为除所述目标像素之外的像素；对于每条所述目标像素和另一像素的暗电流演变曲线，计算不同横坐标对应的纵坐标差的标准差；将标准差最小的2条所述暗电流演变曲线归为一类，得到所述目标像素的分类结果； 根据所述曲线绘制结果，得到所述光电成像器件辐射损伤的像素级分类结果，包括：对所有所述目标像素的分类结果取交集，得到所述光电成像器件辐射损伤的像素级分类结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院新疆理化技术研究所，其通讯地址为：830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。