散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所王声翔获国家专利权
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龙图腾网获悉散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所申请的专利一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297572B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310057203.3，技术领域涉及：G01N23/046；该发明授权一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质是由王声翔;陈洁;谭志坚;杨陆峰;余朝举;郑海彪;曾智蓉;张雪凯设计研发完成，并于2023-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质，其中方法包括：当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像；对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像。由此，通过光栅成像系统可以获取多模态成像，进而可以根据各个模态的图像来分析样品构造，从而可以更全面的获取样品内部的信息。
本发明授权一种光栅成像处理方法、装置、系统和介质在权利要求书中公布了：1.一种光栅成像处理方法，其特征在于，包括： 当探测器上的莫尔条纹呈均匀分布时，获取放入光栅成像系统的样品的至少一个角度的投影图像，以及未放入样品时的背景图像； 对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像； 当获取放入光栅成像系统的样品的多个角度的图像时，根据各个角度对应的获取亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像、平均吸收信息图像、折射信息图像和散射信息图像对所述样品进行三维重建； 对所述投影图像结合所述背景图像进行吸收信息、折射信息、散射信息进行分离，同时获取所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像、暗条纹对应的吸收信息图像包括： 分离所述投影图像中所述莫尔条纹中亮条纹对应的吸收信息图像，并去除所述背景图像后作为高能吸收图像； 分离所述投影图像中所述莫尔条纹中暗条纹对应的吸收信息图像，并去除所述背景图像后作为低能吸收图像。
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