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龙图腾网获悉飞腾信息技术有限公司;飞腾技术(广州)有限公司申请的专利芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115932557B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211535586.2，技术领域涉及：G01R31/30；该发明授权芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质是由郭浩;曾维;邓冬明;何玲设计研发完成，并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质，涉及芯片领域。方法包括：通过芯片测试装置获取自身与待测装置之间的通信状态；其中，待测装置中所包含的待测芯片工作在目标工作环境数据；在通信状态指示正常的情况下，按照预设调节方式确定调节步长，并根据调节步长更新目标工作环境数据，直至调节步长达到预设阈值步长，且通信状态指示异常；其中，通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为待测芯片的工作环境边界值。本申请实施例所提供的芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质具有相对精确及便捷的测试出待测芯片的工作环境数据的边界值，获取待测芯片的工作环境数据的分布范围的优点。

本发明授权芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括芯片测试装置和待测装置，所述待测装置搭载有待测芯片，所述待测装置用于为所述待测芯片提供工作环境数据，并在所述工作环境数据下与所述芯片测试装置建立通信；所述方法包括： 通过所述芯片测试装置获取自身与所述待测装置之间的通信状态；其中，所述待测装置中所包含的待测芯片工作在目标工作环境数据； 在所述通信状态指示正常的情况下，按照预设调节方式确定调节步长，并根据所述调节步长更新所述目标工作环境数据，直至所述调节步长达到预设阈值步长，且所述通信状态指示异常；其中，所述通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为所述待测芯片的工作环境边界值； 在所述待测芯片可以承受的上限值小于所述待测芯片处于散热设计功耗TDP下所确定的数值时，确定所述待测芯片为正常芯片；并在所述待测芯片可以承受的上限值大于或等于所述待测芯片处于散热设计功耗TDP下所确定的数值时，确定所述待测芯片为异常芯片。

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