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龙图腾网获悉江南大学申请的专利一种双波长变形测量方法及测量仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115597515B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211267496.X，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权一种双波长变形测量方法及测量仪是由刘诚;严一彰;蒋志龙设计研发完成，并于2022-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双波长变形测量方法及测量仪在说明书摘要公布了：本发明公开了一种双波长变形测量方法及测量仪，该方法包括以下步骤：步骤一：只打开第一激光光源，使待测物体保持未发生位移的原始位置不变，直接采集干涉图像记为Iλ11；步骤二：只打开第二激光光源，使待测物体保持未发生位移的原始位置不变，直接采集干涉图像记为Iλ21；步骤三：只打开第一激光光源，使待测物体发生位移，直接采集干涉图像记为Iλ12；步骤四：只打开第二激光光源，使待测物体发生位移，直接采集干涉图像记为Iλ22；步骤五：根据步骤一到四采集到的图像计算待测物体位移的干涉条纹强度分布I；步骤六：根据步骤五计算得到的待测物体位移的干涉条纹强度分布I计算待测物体位移产生的高度差Δh。本发明测量精度高，测量速度快，测量范围广。

本发明授权一种双波长变形测量方法及测量仪在权利要求书中公布了：1.一种双波长变形测量方法，其特征在于，应用双波长变形测量仪进行测量； 所述双波长变形测量仪包括第一激光光源、第二激光光源和电荷耦合器件，在所述第一激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第一衰减器、第一反射镜、第一空间滤波器、第一扩束准直器、第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜和第二分光棱镜，作为参考光路；在所述第二激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第二衰减器、第二空间滤波器、第二扩束准直器和第二分光棱镜，作为物光路； 所述双波长变形测量方法包括以下步骤： 步骤一：只打开第一激光光源，使待测物体保持未发生位移的原始位置不变，通过电荷耦合器件直接采集干涉图像记为Iλ11； 步骤二：只打开第二激光光源，使待测物体保持未发生位移的原始位置不变，通过电荷耦合器件直接采集干涉图像记为Iλ21； 步骤三：只打开第一激光光源，使待测物体发生位移，通过电荷耦合器件直接采集干涉图像记为Iλ12； 步骤四：只打开第二激光光源，使待测物体发生位移，通过电荷耦合器件直接采集干涉图像记为Iλ22； 步骤五：根据步骤一到四采集到的图像计算待测物体位移的干涉条纹强度分布I； 步骤六：根据步骤五计算得到的待测物体位移的干涉条纹强度分布I计算待测物体位移产生的高度差Δh。

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