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天津工业大学成洪川获国家专利权

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龙图腾网获悉天津工业大学申请的专利基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120408562B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510886275.8,技术领域涉及:G06F18/27;该发明授权基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法是由成洪川;张贺;傅桂龙;尚志武;张洪宽;公为财;公睿婕;侯凌;候小清;万雪媂设计研发完成,并于2025-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法在说明书摘要公布了:本发明涉及故障诊断领域,公开了一种基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法,通过获取振动信号,基于自回归模型计算功率谱密度,并采用改进的局部极大极小值法进行自适应频谱分割,生成优化频谱边界集;进而构建分层改进乘积包络谱基尼系数比优化图,通过频域信噪比优化的改进乘积包络谱分析提取故障特征频率,并基于基尼系数比值选择最优谐振频带,实现故障诊断。本发明通过高斯核平滑、分层频谱分割和频域信噪比优化,有效抑制复杂噪声干扰,显著提高早期故障特征的辨识精度,适用于非平稳工况下的滚动轴承故障诊断,具有较高的鲁棒性和工业应用价值。

本发明授权基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法在权利要求书中公布了:1.一种基于改进乘积包络谱基尼系数比优化图的故障诊断方法,其特征在于,步骤包括: a)获取振动信号; b)基于自回归模型分析振动信号,生成功率谱密度,并确定功率谱密度的局部极大值集合; c)根据所述局部极大值集合自适应划分频谱,生成优化后的频带的边界集合; d)基于所述边界集合构建分层改进的乘积包络谱基尼系数比优化图; 步骤d)包括以下步骤: d1)对功率谱密度应用高斯核函数进行卷积平滑处理,生成平滑后的功率谱密度; 重复执行步骤b)至步骤d1,直到划分区间个数不再随着迭代而改变;将迭代生成的全部边界集按升序排序形成一个边界集合; 基于平滑后的功率谱密度和边界集合,构建分层改进的乘积包络谱基尼系数比优化图; 分层改进的乘积包络谱基尼系数比优化图的构建包括:在边界集合中选取预定数量的边界集,与初始边界共同构成分层结构,构造分层改进乘积包络谱基尼系数比优化图; e)获取所述分层改进的乘积包络谱基尼系数比优化图中的划分的频带;通过改进的乘积包络谱分析方法确定最优谐振频带,并识别故障特征频率; 步骤e)包括以下步骤: 对所述分层改进的乘积包络谱基尼系数比优化图中的每个频带间隔使用带通滤波器,生成滤波后的信号; 基于频域信噪比优化选择广义包络谱,构建改进的乘积包络谱; 基于滤波后的信号计算每个频带间隔的改进的乘积包络谱基尼系数比的值,确定最优谐振频带,并通过所述改进的乘积包络谱识别故障特征频率;所述改进的乘积包络谱基尼系数比的值的计算通过比较故障信号和健康信号的改进的乘积包络谱基尼系数实现,通过比较两者差异,结合序列范数和排序操作,确定最优谐振频带;改进的乘积包络谱基尼系数比IPESGIR的值的定义如下: 其中,表示信号的改进的乘积包络谱;表示乘积包络谱的长度;表示序列按升序排列;表示序列的范数;表示故障信号的IPESGI;表示健康信号的IPESGI。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人天津工业大学,其通讯地址为:300381 天津市西青区宾水西道399号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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