中科亿海微电子科技(苏州)有限公司谭丽萍获国家专利权
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龙图腾网获悉中科亿海微电子科技(苏州)有限公司申请的专利提高测试覆盖率的测试电路及工作方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120028681B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510510804.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权提高测试覆盖率的测试电路及工作方法是由谭丽萍;魏育成;徐成华;孙晓宁设计研发完成，并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本提高测试覆盖率的测试电路及工作方法在说明书摘要公布了：提高测试覆盖率的测试电路及工作方法，能够在对芯片做DFT时，保证高频时钟域逻辑at‑speedfault和stuck‑atfault都能测试的情况下，使得低频逻辑电路不做at‑speed测试时能够测试stuck‑atfault，从而提高整个芯片stuck‑at测试的覆盖率。当芯片进入at‑speed测试模式，由扫描使能scan_enable来控制第二时钟门控电路，在scan_enable拉高后，通过第三寄存器对scan_enable进行打拍处理，第二时钟门控电路输出时钟晚输出一个周期，通过第三与门使得scan_enable拉低时关停时钟输出。
本发明授权提高测试覆盖率的测试电路及工作方法在权利要求书中公布了：1.提高测试覆盖率的测试电路，其特征在于：其包括第三寄存器（U11）、第三与门（U12）、第二时钟门控电路（U13）、第四双路选择器（U14）； 静态故障stuck-at测试时，通过第二时钟门控电路使第四双路选择器得到与扫描时钟scan_clock一致的时钟，而通过stuck-at测试模式信号pll_bypass高电平控制第二时钟门控电路处于透明态，扫描模式scan_mode信号为高电平，第四双路选择器输出scan_clock到功能寄存器FunctionDFFs，获得符合预期的scan_clock； 当芯片进入高速故障at-speed测试模式，由扫描使能scan_enable来控制第二时钟门控电路，在scan_enable拉高后，通过第三寄存器对scan_enable进行打拍处理，第二时钟门控电路输出时钟晚输出一个周期，通过第三与门使得scan_enable拉低时关停时钟输出。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中科亿海微电子科技(苏州)有限公司，其通讯地址为：215127 江苏省苏州市吴中区甪直镇长虹北路169号吴淞江商务区A幢2层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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