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龙图腾网获悉中国科学院地理科学与资源研究所申请的专利一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119068010B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411176531.6，技术领域涉及：G06T7/136；该发明授权一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法是由任利东设计研发完成，并于2024-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法，属于土壤学、水文生态、环境科学领域。包括大土柱样品二值分割前预处理，二值图像去噪处理，基于孔隙联通和形态的植物根系孔隙提取，以及根系和非根系孔隙参数量化。其中，二值分割采用基于局部阈值法的Phansalkar方法，并针对大土柱进行优化。图像去噪处理使用MorphoLibJ插件，并进行图像移除以提取扰动孔隙。植物根系孔隙的提取采用基于改进的Biopore方法。最后，使用ImageJ插件进行根系和非根系孔隙的参数量化。这种方法能有效提取并分析大土柱X射线成像的孔隙结构，可用于土壤结构的研究与分析。

本发明授权一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法在权利要求书中公布了：1.一种大土柱X射线成像孔隙结构的分析方法，其特征在于：所述的方法包括： 大土柱图像样品二值分割前预处理，采用基于局部阈值法的大土柱样品二值分割方法； 分割后二值图像去噪处理； 基于孔隙联通和形态的植物根系孔隙提取方法； 根系和非根系孔隙参数量化； 所述的基于局部阈值法的大土柱样品二值分割方法包括： 利用局部阈值法中的Phansalkar方法，并提出针对一般性大土柱的最优Phansalkar改进算法，计算公式如下： t＝mean*1+p*exp-q*mean+k*stdevr-1 其中mean和stdev分别为本地平均值和标准偏差；p和q的值取固定值，其中p＝2，q＝10；k和r分别为参数1和2，其中k＝0.25，r＝7； 所述的分割后二值图像去噪处理，使用MorphoLibJ插件中的“InteractiveMorphologicalRestructuring3D”方法提取扰动孔隙，并通过对提取的扰动孔隙与原始图像进行图像移除； 去除分辨率带来的噪点使用ImageJ自带的去噪方法，对于低分辨率大土柱使用“iterations＝1count＝8black”进行闭操作去除； 所述的植物根系孔隙提取方法采用基于改进的Biopore方法，通过改进Biopore中“scaling”的范围参数，使得植物根系孔隙图像中包含样本分辨率中根系孔隙，达到提取根系结构的效果。

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