买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉北京科技大学申请的专利用于检测样品太赫兹频段光学参数的电动旋转样架及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116625957B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310531972.2，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权用于检测样品太赫兹频段光学参数的电动旋转样架及方法是由张天尧;张朝晖;赵小燕;袁媛设计研发完成，并于2023-05-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于检测样品太赫兹频段光学参数的电动旋转样架及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于检测样品太赫兹频段光学参数的电动旋转样架及方法，适用于透射式太赫兹时域光谱系统，所述电动旋转样架包括升降台、驱动系统和刻度盘；其中，刻度盘安装在升降台上，其高度可调节；刻度盘包括刻度盘主体和角度主尺盘，角度主尺盘上设有角度主尺刻度，刻度盘主体上设有角度游标刻度；在驱动系统的驱动下，角度主尺盘可在刻度盘主体上转动；刻度盘的圆心位置设置有用于安置待测样品的安置槽；在将待测样品安置于安置槽后，待测样品可随角度主尺盘一起转动。利用本发明的技术方案，可在无需任何先验参数和样品接触的情况下，实现双折射晶体光轴方向定位和样品无接触测厚，并提高太赫兹频段光学参数的测量速度、稳定性和精确度。

本发明授权用于检测样品太赫兹频段光学参数的电动旋转样架及方法在权利要求书中公布了：1.一种检测样品太赫兹频段光学参数的方法，利用电动旋转样架实现，其特征在于，所述电动旋转样架包括：升降台、驱动系统以及刻度盘；其中，所述刻度盘安装在所述升降台上，且安装固定后，所述刻度盘的盘面呈竖直方向设置，在所述升降台的带动下，所述刻度盘的高度可调节；所述刻度盘包括刻度盘主体和角度主尺盘，所述角度主尺盘与所述刻度盘主体同圆心设置，所述角度主尺盘的圆周内侧设置有角度主尺刻度，所述刻度盘主体上，沿所述角度主尺盘的圆周方向，设置有角度游标刻度；在所述驱动系统的驱动下，所述角度主尺盘可在所述刻度盘主体上转动，所述角度游标刻度与所述角度主尺刻度配合，用于显示所述角度主尺盘的转动角度；所述刻度盘的圆心位置设置有安置槽，所述安置槽用于安置待测样品；在将待测样品安置于所述安置槽后，所述待测样品可随所述角度主尺盘一起转动； 所述方法包括： 将电动旋转样架置于透射式太赫兹时域光谱系统光束聚焦处，调节升降台高度，使得刻度盘中心与太赫兹波聚焦位置重合，测量空气参考信号并保存； 将待测样品嵌入安置槽内，使线偏振太赫兹波以任意方向穿过待测样品，调整透射式太赫兹时域光谱系统光学延迟线，扫描太赫兹时域波形，定位双折射引起的时域波形双峰峰位； 锁定光学延迟线于首个波形峰值所在位置，调用电动旋转样架使待测样品旋转一周，峰值信号最大时输出角度即为光轴角度，从而实现待测样品的光轴自动定位；其中，若所述待测样品为负晶体，则将光学延迟线定位于快轴峰值位置；若所述待测样品为正晶体，则将光学延迟线定位于慢轴峰值位置； 解锁光学延迟线，扫描非常光轴完整太赫兹波信号，调用电动旋转样架使待测样品旋转90度，再次扫描寻常光轴完整太赫兹波信号； 通过传递函数迭代逼近算法，从寻常光和非常光信号中提取待测样品厚度； 基于得到的光轴方向和样品厚度，计算样品太赫兹频段光学参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京科技大学，其通讯地址为：100083 北京市海淀区学院路30号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。