北京环境特性研究所张进获国家专利权
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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利一种反射面天线焦点的寻找方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116296296B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310510714.6,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种反射面天线焦点的寻找方法是由张进;姜涌泉;孙新学;赵健设计研发完成,并于2023-05-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种反射面天线焦点的寻找方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种反射面天线焦点的寻找方法,涉及实验方法领域,包括以下步骤:通过投影法获得焦点的大致位置;围绕焦点的大致位置,找到微调机构的固定点,安装并固定带有工装的微调机构;安装好微调机构和工装后,利用铅锤的垂线投影到基础地面并与焦点重合,测量铅锤的高度与理论焦点的高度一致,则确定焦点的初步位置;通过摄影法拟合标准抛物面及焦点位置,分析工装相对于理论位置的偏差量,通过微调机构对工装进行调整消除偏差量,使工装定位在焦点在空间的位置,以最终确定焦点位置,本发明具有能够通过实点的方式准确找到反射面天线焦点位置的优点。
本发明授权一种反射面天线焦点的寻找方法在权利要求书中公布了:1.一种反射面天线焦点的寻找方法,其特征在于:包括以下步骤, Ⅰ.设一基准点,通过地面参照物找到基准点的基础地面投影点; Ⅱ.绘制通过基准点的竖直线,利用水平仪绘制通过投影点并垂直竖直线的水平线,通过理论投影距离获得焦点2的大致位置; Ⅲ.围绕焦点2的大致位置,找到微调机构21的固定点,安装并固定带有工装3的微调机构21; Ⅳ.安装好微调机构21和工装3后,利用铅锤4的垂线投影到基础地面并与焦点2重合,测量铅锤4的高度与理论焦点2的高度一致,则确定焦点2的初步位置; Ⅴ.在反射面天线1表面粘贴摄影靶标,然后用相机进行拍摄,将照片导入MPS软件中进行数据处理,得出各点的三维点坐标; Ⅵ.拟合标准抛物面及焦点2位置,分析工装3相对于理论位置的偏差量,通过微调机构21对工装3进行调整消除偏差量,使工装3定位在焦点2在空间的位置,以最终确定焦点2位置。
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