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龙图腾网获悉中冶建筑研究总院(深圳)有限公司申请的专利一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116026785B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310151842.6，技术领域涉及：G01N21/359；该发明授权一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法是由王罡;陈明晹;闵红光设计研发完成，并于2023-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法，本发明通过砼碳化本征及表征检测，近红外高光谱成像数据预处理，获得多个设定强度等级的硅酸盐砼标准试块在不同碳化周期下的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据，进而建立硅酸盐砼碳化‑近红外光谱数据库；进而建立硅酸盐砼标准试块表面碳化表征与碳化深度本征之间的映射模型，利用映射模型以及现场获取的近红外高光谱成像数据可推算出构件的碳化深度。本发明不需要接触构件，也不需要对构件进行破损检测，通过简单的近红外高光谱成像拍摄就可以快速而全面掌握构件乃至结构的砼碳化状况。

本发明授权一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S10.砼碳化本征及表征检测 选定多块设定强度等级的硅酸盐砼标准试块进行碳化深度测试和近红外高光谱成像；进而获得设定强度等级的硅酸盐砼标准试块的碳化深度数据，以及碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据； S20.近红外高光谱成像数据预处理 对采集的近红外高光谱成像数据进行大气校正、混合噪声校正以及数据归一化处理； S30.将硅酸盐砼标准试块放入快速老化试验箱内，加快硅酸盐砼标准试块的碳化速度； 设定碳化周期后取出，重复步骤S10-S20，获得硅酸盐砼标准试块的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据； S40.再次将硅酸盐砼标准试块放入快速老化试验箱内，加快硅酸盐砼标准试块的碳化速度；设定碳化周期后取出，重复步骤S10-S20，获得硅酸盐砼标准试块的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据； S50.重复步骤S40多次，进而获得多个不同碳化周期下硅酸盐砼标准试块的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据； S60.调换不同设定强度等级的硅酸盐砼标准试块，重复步骤S10-S50，进而获得不同设定强度等级的硅酸盐砼标准试块在多个不同碳化周期下的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据； S70.重复步骤S60，进而获得多个设定强度等级的硅酸盐砼标准试块在不同碳化周期下的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据，进而建立硅酸盐砼碳化-近红外光谱数据库； S80.建立硅酸盐砼标准试块表面碳化表征与碳化深度本征之间的映射模型，通过硅酸盐砼构件表面近红外高光谱成像数据反映的碳化特征离子光谱峰值，进而推算出硅酸盐砼构件碳化深度； 采用基于注意力机制的卷积神经网络，将试验数据按照3：7比例分为学习数据集和训练数据集进行深度学习，并进行交叉验证测试，确保模型精度不低于95%; S90.在混凝土结构工程进行现场测试时，直接对构件的砼表面进行近红外高光谱成像拍摄，获取砼表面的光谱数据，将光谱数据带入映射模型，推算出构件的碳化深度; 步骤S40中，分别采用波长为1875nm、1454nm、1380nm、1135nm和942nm的近红外光谱对试块进行近红外高光谱成像，识别试块中关于水分浓度的光谱数据；分别采用波长为1400nm、2200nm、2300nm的近红外光谱对试块进行近红外高光谱成像，识别试块中关于氢氧根离子浓度的光谱数据；分别采用波长为2550nm、2350nm、2160nm、2000nm、1900nm的近红外光谱对试块进行近红外高光谱成像，识别试块中关于碳酸根浓度的光谱数据； 以及，在步骤S90中，分别采用波长为1875nm、1454nm、1380nm、1135nm和942nm的近红外光谱对过构件砼表面进行近红外高光谱成像，识别构件中关于水分浓度的光谱数据;以及，分别采用波长为1400nm、2200nm、2300nm的近红外光谱对构件砼表面进行近红外高光谱成像，识别构件中关于氢氧根离子浓度的光谱数据;分别采用波长为2550nm、2350nm、2160nm、2000nm、1900nm的近红外光谱对构件砼表面进行近红外高光谱成像，识别过构件中关于碳酸根浓度的光谱数据。

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