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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种层析显微镜的色差校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115826217B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211489125.6，技术领域涉及：G02B21/04；该发明授权一种层析显微镜的色差校正方法是由谭鑫;李徽;马振予;焦庆斌;许亮;杨名宇;马顶;姜思佳;李宇航;裴健;张薇;张嘉航;刘思琪设计研发完成，并于2022-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种层析显微镜的色差校正方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学成像技术领域，具体涉及一种层析显微镜的色差校正方法，包括如下步骤：S1：在显微镜的成像光路上加入二次相位光栅、闪耀光栅、反射镜和筒镜；其中闪耀光栅包括与二次相位光栅的衍射级对应的多个部分；S2：将待观察样本置于显微物镜的物方焦平面处，将二次相位光栅置于显微物镜的像方焦平面处；S3：入射光先通过显微物镜再依次进入二次相位光栅、闪耀光栅、反射镜和筒镜内，最后在CCD探测器上成像；二次相位光栅处的光波分成三束衍射光波并分别投射至闪耀光栅的上部、中部和下部，通过色散相减方式实现色差的校正。本发明结构简单、制造成本低，色差校正效果好，光波的投射能量高。

本发明授权一种层析显微镜的色差校正方法在权利要求书中公布了：1.一种层析显微镜的色差校正方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：在显微镜的成像光路上加入二次相位光栅（2）、闪耀光栅（3）、反射镜（4）和筒镜（5）；其中闪耀光栅（3）包括与二次相位光栅（2）的衍射级对应的多个部分； 所述二次相位光栅（2）与闪耀光栅（3）采用相同的材料制作，通过闪耀光栅3实现色差的补偿，通过反射镜4实现层析图像的分离； S2：将待观察样本置于显微物镜（1）的物方焦平面处，将二次相位光栅（2）置于显微物镜（1）的像方焦平面处； S3：入射光先通过显微物镜（1）再依次进入二次相位光栅（2）、闪耀光栅（3）、反射镜（4）和筒镜（5）内，最后在CCD探测器（12）上成像； 步骤S3中的光波的光路路径具体为： S31：入射光波从显微物镜（1）的物方焦平面进入； S32：进入显微物镜（1）内的入射光波再进入二次相位光栅（2）； S33：二次相位光栅（2）处的光波分成三束衍射光波并分别投射至闪耀光栅（3）的上部（6）、中部（7）和下部（8），此时进入闪耀光栅（3）的三个图像在闪耀光栅（3）面上彼此分离； S34：经闪耀光栅（3）后的三束衍射光均具有相同的衍射角且平行投射至反射镜（4）上；三束衍射光波对应三个不同的反射镜（4），通过调整反射镜（4）的倾角对光路方向进行控制； S35：三束衍射光波经反射镜（4）投射至筒镜（5）上； S36：三束衍射光波经筒镜（5）进入CCD探测器（12）上成像。

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