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龙图腾网获悉中国科学院国家空间科学中心申请的专利迈克尔逊干涉仪及其测量液晶光学部件折射率变化的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115711574B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211434947.4，技术领域涉及：G01B9/02；该发明授权迈克尔逊干涉仪及其测量液晶光学部件折射率变化的方法是由张龙龙;李宏伟;陶孟泽;寇彬;胡紫楠;马英起;韩建伟设计研发完成，并于2022-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本迈克尔逊干涉仪及其测量液晶光学部件折射率变化的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及测量辐照效应导致液晶光学部件折射率变化领域，具体一种迈克尔逊干涉仪及其测量液晶光学部件折射率变化的方法，本发明的迈克尔逊干涉仪用于实现液晶光学部件空间辐射环境效应的原位测试。该干涉仪由激光器、准直扩束透镜、分光镜、水平倾斜反射镜、竖直反射镜、聚束透镜、液晶装置CCD、和辐射源构成。液晶装置置于分光镜和竖直反射镜之间。液晶装置与液晶驱动电源连接。竖直反射镜是正面为光滑镜面而背面开有非贯穿小孔的铝板。射线由辐射源出射垂直照射竖直反射镜背面，穿透小孔底部实现对液晶的局部辐照。通过对比有无辐照时CCD中的干涉条纹的畸变，计算被辐照的液晶区域的折射率。

本发明授权迈克尔逊干涉仪及其测量液晶光学部件折射率变化的方法在权利要求书中公布了：1.一种迈克尔逊干涉仪，所述迈克尔逊干涉仪，用于对液晶光学部件折射率受辐射影响发生的变化进行测量，所述迈克尔逊干涉仪包括：分光镜14、水平倾斜反射镜16和竖直反射镜19，其特征在于，所述迈克尔逊干涉仪还包括：液晶装置18和辐射源20；其中， 所述竖直反射镜19的背面开有一非贯穿小孔30；所述非贯穿小孔30底部有设定厚度的薄层；所述液晶装置18置于所述分光镜14和所述竖直反射镜19之间；所述液晶光学部件置于液晶装置18中；所述辐射源20置于所述竖直反射镜19的背面； 所述分光镜14，用于将入射到分光镜的平行光束分成两路光束，一路光束入射到水平倾斜反射镜16，一路光束穿过液晶装置18入射到竖直反射镜19； 所述水平倾斜反射镜16，用于将入射的光束反射到分光镜14；反射到分光镜14的光束经分光镜14透射； 所述竖直反射镜19，用于将入射的光束反射；竖直反射镜19反射的光束穿过液晶装置18后再由分光镜14反射； 所述经分光镜14透射的光束和由分光镜14反射的光束在分光镜14处会聚形成干涉光束； 所述辐射源20，用于产生辐射射线；辐射射线穿透非贯穿小孔30后对所述液晶装置18中液晶光学部件的局部进行辐照。

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