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龙图腾网获悉湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心申请的专利小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115409787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210983492.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法是由刘坚;杨德志;陈宁设计研发完成，并于2022-08-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，包括：获取光模块底座的图像；对光模块底座的图像进行预处理；根据光模块底座的缺陷分布位置，从预处理后的图像提取出至少一个感兴趣区域；将提取到的感兴趣区域作为检测块进行缺陷检测，得到检测块的缺陷类型；采用与缺陷类型相应的算法提取检测块的特征向量；将特征向量输入训练好的分类模型中，判断检测块中是否存在缺陷类型对应的缺陷。本发明的技术方案提升了小型可插拔收发光模块底座缺陷检测的准确率。

本发明授权小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，所述方法包括： 获取所述光模块底座的图像； 对所述光模块底座的图像进行预处理； 根据所述光模块底座的缺陷分布位置，从预处理后的图像提取出至少一个感兴趣区域； 将提取到的感兴趣区域作为检测块进行缺陷检测，得到所述检测块的缺陷类型； 采用与所述缺陷类型相应的算法提取所述检测块的特征向量； 将所述特征向量输入训练好的分类模型中，判断所述检测块中是否存在所述缺陷类型对应的缺陷； 其中，所述将提取到的感兴趣区域作为检测块进行缺陷检测，得到所述检测块的缺陷类型，包括： 如果所述检测块的长宽比大于预定值，则： 将所述检测块细分为多个子检测块，并从中确定存在缺陷的子检测块； 对所述存在缺陷的子检测块进行二值化处理； 对二值化处理后的子检测块进行平滑处理； 填补平滑处理后的子检测块上的空洞，生成标准模板； 将平滑处理后的子检测块与所述标准模板进行图像差分； 在图像差分的结果中，通过可连通区域的高度峰值判断缺陷类型是否为缺料缺陷，通过白色连通区域的长度、高度和面积判断缺陷类型是否为颗粒缺陷； 如果所述检测块的长宽比小于或等于预定值，则： 对所述检测块进行二值化处理； 通过对二值化处理后的检测块中白色像素点面积与其最小外接矩阵面积的比值，判断缺陷类型是否为多料缺陷； 通过对二值化处理后的检测块中白色像素面积与整个检测块面积的比值，判断缺陷类型是否为卡石缺陷； 对所述检测块进行局部二值模式处理； 通过局部二值模式处理后的图像的灰度统计分布判断缺陷类型是否为毛刺缺陷。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心，其通讯地址为：410082 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。