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龙图腾网获悉大塚电子株式会社申请的专利光散射测定装置以及测定用夹具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114509372B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111360763.3，技术领域涉及：G01N15/00；该发明授权光散射测定装置以及测定用夹具是由泉谷悠介;若山育央;长泽广也设计研发完成，并于2021-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本光散射测定装置以及测定用夹具在说明书摘要公布了：本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具，能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方，且具有单个受光器，由此小型且低成本。一种光散射测定装置，具有：光源；单个受光器；试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及移动机构，使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下，使第一开口移动至第一光路的入射部的位置，在进行后向测定的情况下，使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。

本发明授权光散射测定装置以及测定用夹具在权利要求书中公布了：1.一种光散射测定装置，其特征在于，具有： 光源，产生照射至试样的入射光； 单个受光器，配置于接受从所述试样射出的散射光的位置，测定该散射光的强度； 试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该试样池具有容纳所述试样的空腔，该框体具有配置所述试样池的保持空间、形成于用于入射光与散射光所成的散射角度为100度以下的前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成于用于散射角度大于100度的后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与所述空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及 移动机构，使所述试样保持部在铅垂方向移动， 所述光学元件配置于所述第一光路和所述第二光路中的至少一方的光路的入射部或者出射部中的至少一方， 所述第一光路和所述第二光路在铅垂方向分离， 所述移动机构在进行所述前向测定和所述侧向测定中的至少任意一方的测定的情况下，使所述第一开口移动至所述第一光路的入射部的位置，在进行所述后向测定的情况下，使所述第二开口移动至所述第二光路的入射部的位置。

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