世美特株式会社;独立行政法人国立高等专门学校机构;国立大学法人弘前大学圆山重直获国家专利权
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龙图腾网获悉世美特株式会社;独立行政法人国立高等专门学校机构;国立大学法人弘前大学申请的专利温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115917273B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180040773.0，技术领域涉及：G01K7/22；该发明授权温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法是由圆山重直;冈部孝裕;井関祐也;野中崇;古川琢磨;细川靖;田畑裕太郎;松舘直史;中岛利宪;东雅也;折戸学设计研发完成，并于2021-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法，能够以高精度、高准确性以及高速响应性来测量被测定体的温度，并且可将测定用薄膜感温元件的温度保持为比被测定体的温度低的关系。温度测定装置包括：感温部，探测温度；测定用薄膜感温元件，通过使所述感温部接触至被测定体，从而可测定温度；保护加热用薄膜感温元件，与所述测定用薄膜感温元件隔着隔热层可进行热交换地配置，且受到控制，以使温度变得与所述测定用薄膜感温元件相等；温度控制元件，可将所述测定用薄膜感温元件设为比所述被测定体的温度低固定温度的温度状态；以及控制处理部，控制所述测定用薄膜感温元件、所述保护加热用薄膜感温元件以及所述温度控制元件。
本发明授权温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法在权利要求书中公布了：1.一种温度测定装置，其特征在于，包括： 感温部，探测温度； 测定用薄膜感温元件，通过使所述感温部接触至被测定体，从而能够测定温度； 保护加热用薄膜感温元件，与所述测定用薄膜感温元件隔着隔热层能够进行热交换地配置，且受到控制，以使温度变得与所述测定用薄膜感温元件相等； 温度控制元件，能够将所述测定用薄膜感温元件设为比所述被测定体的温度低固定温度的温度状态；以及 控制处理部，控制所述测定用薄膜感温元件、所述保护加热用薄膜感温元件以及所述温度控制元件。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人世美特株式会社;独立行政法人国立高等专门学校机构;国立大学法人弘前大学，其通讯地址为：日本东京墨田区锦糸1丁目7番7号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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