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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120373254B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510877027.7，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质是由高卫设计研发完成，并于2025-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片设计技术领域，特别是涉及一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质，其通过IP模块的第i个待测接口infi输出多条测试指令；将每条测试指令加入设计验证端DV中infi的第一队列vFIFOi；DV取出vFIFOi中的测试指令并存入infi的总线功能模型BFMi的第二队列bFIFOi；BFMi取出bFIFOi中的测试指令，对于首个携带反压测试标识的指令，t3后返回响应数据，反压住vFIFOi；对于非首个携带反压测试标识的指令，t2i后返回响应数据，再次反压住vFIFOi，以此类推，不断地反压住vFIFOi，同时降低了反压vFIFOi的时间和整个仿真周期的时间。

本发明授权一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于IP验证的反压测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取IP模块的第i个待测接口infi，所述infi输出多条测试指令，输出每条测试指令的平均时间为t1i，1≤i≤N，N为IP模块的接口数量； 获取设计验证端DV中infi的第一队列vFIFOi，所述vFIFOi初始化为空；其中，所述vFIFOi的深度为n； 将infi输出的每条测试指令加入所述vFIFOi，其中，所述测试指令绑定反压测试标识；所述DV取出所述vFIFOi中的测试指令并存入infi的总线功能模型BFMi的第二队列bFIFOi；所述BFMi取出bFIFOi中的测试指令进行处理并返回，其中： 当BFMi从bFIFOi中取出的测试指令为首个携带反压测试标识的指令时，并经过预设时间间隔t3后，所述vFIFOi填满，所述vFIFOi被反压住，IP模块的infi暂停发送测试指令；并将所述测试指令的响应数据返回给IP模块，所述测试指令处理完毕；其中，所述t3满足：t3≥t1i×n； 当BFMi从bFIFOi中取出的测试指令为非首个携带反压测试标识的指令时，经过预设时间间隔t2i后，所述vFIFOi填满，所述vFIFOi被反压住，IP模块的infi暂停发送测试指令；并将所述测试指令的响应数据返回给IP模块，所述测试指令处理完毕；其中，t2i≥t1i×K，K为IP中时钟周期的倍数，1≤j≤M，M为测试指令的数量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦集成电路(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。