中国科学院长春光学精密机械与物理研究所周满获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种立式光学检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120368878B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510849600.3，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权一种立式光学检测装置是由周满;胡海翔;李明茁;刘泽坤;郭乃泉设计研发完成，并于2025-06-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种立式光学检测装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种立式光学检测装置，涉及光学检测技术领域，包括干涉组件、若干光学组件、光学平台和固设于支撑平台的支撑框架，支撑框架包括并排设置的第一架体和第二架体，第一架体内固设有至少一块第一层板，全部第一层板将第一架体的第一空间分割成至少两个第一放置区，干涉组件择一放置于第一放置区。第二架体内设有至少一块第二层板，至少一块第二层板在第二架体内的高度可调，全部第二层板将第二架体的第二空间分隔成至少两个第二放置区，全部光学组件选择性放置于第二放置区。通过多种组合方式调整干涉组件与各光学组件的相对位置，共同构成多种不同的检测光路，确保干涉组件与全部光学组件能形成预设检测光路，能够满足多样化检测需求。
本发明授权一种立式光学检测装置在权利要求书中公布了：1.一种立式光学检测装置，其特征在于，包括干涉组件（1）、若干光学组件（2）、光学平台（3）和固设于所述光学平台（3）的支撑框架（4）；所述支撑框架（4）包括并排设置的第一架体（41）和第二架体（42）； 所述第一架体（41）内固设有至少一块第一层板，全部所述第一层板将所述第一架体（41）的第一空间分割成至少两个第一放置区，所述干涉组件（1）择一放置于所述第一放置区； 所述第二架体（42）内设有至少一块第二层板，至少一块所述第二层板在所述第二架体（42）内的高度可调；全部所述第二层板将所述第二架体（42）的第二空间分隔成至少两个第二放置区，全部所述光学组件（2）选择性放置于所述第二放置区，所述干涉组件（1）与全部所述光学组件（2）共同构成预设检测光路。
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