买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉南京国电南自轨道交通工程有限公司申请的专利一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120357900B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510816667.7，技术领域涉及：H03M1/12；该发明授权一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法是由秦成虎;随新鲜;张林;刘煜;葛鹏杰;刘晓兰设计研发完成，并于2025-06-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法，基于离散傅立叶算法实现，包括：步骤1：基于非同步ADC的通道切换和转换的时间延时而导致相位差的DFT取样点偏移。得到同一ADC内任意通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数；步骤2：基于不同ADC芯片之间的非同步采样而引起的相位差的DFT取样点偏移；将AD通道间和不同ADC间的相位差引起的取样点偏移进行叠加，得到继电保护装置任意AD通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数，本发明通过利用DFT的频谱特性，对非同步采样信号进行取样点偏移补偿，从而实现伪同步采样，提高信号重构精度和频谱分析准确性。

本发明授权一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法在权利要求书中公布了：1.一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法，其特征在于，包括： 步骤（1）：基于非同步ADC的通道切换和转换的时间延时而导致相位差的DFT取样点偏移，得到同一ADC内任意通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数，实现非同步ADC的采样数据的伪同步转换； 步骤（2）：基于不同ADC芯片之间的非同步采样而引起的相位差的DFT取样点偏移，将AD通道间和不同ADC间的相位差引起的取样点偏移进行叠加，得到继电保护装置任意AD通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数，进而实现整装置的非同步ADC的采样数据的伪同步转换； 所述步骤（1）具体包括： 步骤（1-1）：将标准的正弦信号接入到ADC的所有输入通道，假设为8个通道，输入信号X为： ， 式中：A：信号幅值，f：信号频率，t:时间； 步骤（1-2）：设计采样频率fs，以Ts的时间间隔在一个周波的时间内的采样点数为N，形成一个N点的序列； 步骤（1-3）：CPU或FPGA通过数据总线读取ADC的转换数据，一次读取本ADC所有通道的数据，经过N次的转换、读取后，每个通道可形成一组N个离散数据Xci=XTs*i,i=0,1...,N-1； 其中，i为第i点采样；c为同一个ADC的第c个通道，最大值为8或16；Xci为第c个通道的第i次采样值；Ts为采样时间间隔； 步骤（1-4）：根据采集到各通道ADC的转换数据，以第一通道的数据为基准； 步骤（1-5）：依据通道之间的时间延时而引起的相位差ψ，重新计算其他通道的DFT系数，并依据本通道的DFT系数，对采样数据进行DFT运算，计算交流特征量； 所述步骤（2）具体为： 当需要在进行通道校准时，以第一个ADC的第一个通道为基准，计算每个ADC的第一通道的相位并与基准通道的相位值进行比较，得到各个ADC的相位差ψA；并将各ADC的相位差值叠加到对应ADC的不同通道之间的相位偏移上，形成各自通道的DFT系数，以8通道ADC为例，DFT的复平面表示为： ， DFT的极坐标表示为： ， 其中：XA*8+c[k]为第A个ADC的第c通道的K次谐波；ψ为同一ADC内相邻通道间的采样相位差；ψA为第A个ADC的第一通道与第一个ADC的第一通道间的采样相位差； 经过DFT系数偏移后的交流特征量计算，弥补了因异步ADC的通道转换延时而造成的相位差的影响。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京国电南自轨道交通工程有限公司，其通讯地址为：210000 江苏省南京市鼓楼区新模范马路38号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。