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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119374535B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411588470.4，技术领域涉及：G01B21/02；该发明授权测量装置是由张路;梁好;张珊;许汝真;李鹏程;徐伟;汤善治;李明设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本测量装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量装置，包括底座、第一支架和第二支架，第一支架用于连接待测量系统，第二支架与第一支架间隔设置，且用于与待测量系统的位移输出端连接；第一支架和第二支架中的其中一个设有位移测量件，另一个设有位移测量配合件；第一支架具有第一状态和第二状态；第二支架具有第三状态和第四状态；其中，第一支架在第一状态时，第二支架在第三状态，第一支架在第二状态时，第二支架在第四状态，第一范围的最大值小于第二范围的最小值。该测量装置能够对不同范围的输出位移进行测量，降低了测量成本。

本发明授权测量装置在权利要求书中公布了：1.一种测量装置，其特征在于，包括： 底座； 第一支架，所述第一支架用于连接待测量系统； 第二支架，所述第二支架与所述第一支架间隔设置，且用于与所述待测量系统的位移输出端连接； 所述第一支架和所述第二支架中的其中一个设有位移测量件，另一个设有位移测量配合件，所述位移测量件为激光干涉仪，所述位移测量配合件为反射镜或折射镜； 所述第一支架具有第一状态和第二状态，在所述第一状态，所述第一支架与所述底座固定连接，在所述第二状态，所述第一支架通过可变形件与所述底座沿第一方向在第一范围可活动连接，所述第一方向为所述待测量系统输出位移的方向； 所述第二支架具有第三状态和第四状态，在所述第三状态，所述第二支架与所述底座沿第一方向在第二范围可活动连接，在所述第四状态，所述第二支架与所述底座可拆卸固定连接； 其中，所述第一支架在所述第一状态时，所述第二支架在所述第三状态，所述第一支架在所述第二状态时，所述第二支架在所述第四状态，所述第一范围的最大值小于所述第二范围的最小值，所述第一范围为微米级或纳米级的位移范围，所述第二范围为厘米级的位移范围。

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