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龙图腾网获悉深圳市德明利技术股份有限公司申请的专利一种兼容多接口的老化测试板获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223284747U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422663756.6，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型一种兼容多接口的老化测试板是由谭少鹏;王欣;唐承超设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种兼容多接口的老化测试板在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种兼容多接口的老化测试板，所述兼容多接口的老化测试板包括：测试设备以及多个间隔设置在所述测试设备上的测试接口单元；所述测试接口单元包括电路板、7+15P公头连接器、7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器、第一SATA通道切换芯片、第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片。本实用新型通过在电路板上集成7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器，实现多接口兼容的连接方式，同时通过第一SATA通道切换芯片和第二SATA通道切换芯片进行通道切换，测试时可以对接口进行多选一，从而可以对不同规格的固态硬盘进行老化测试，具有较佳的适用性。

本实用新型一种兼容多接口的老化测试板在权利要求书中公布了：1.一种兼容多接口的老化测试板，其特征在于，所述兼容多接口的老化测试板包括：测试设备以及多个间隔设置在所述测试设备上的测试接口单元； 所述测试接口单元包括电路板、7+15P公头连接器、7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器、第一SATA通道切换芯片、第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片，其中，所述7+15P公头连接器安装在所述电路板的下端，所述7+15P母座连接器、M.2母座连接器、mSATA母座连接器、第一SATA通道切换芯片、第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片安装在所述电路板的上端； 所述7+15P公头连接器与所述测试设备电性连接，所述第一SATA通道切换芯片分别与所述7+15P公头连接器、7+15P母座连接器以及第二SATA通道切换芯片电性连接；所述M.2母座连接器分别与所述第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片电性连接；所述mSATA母座连接器分别与所述第二SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片电性连接；所述7+15P公头连接器、7+15P母座连接器、第一SATA通道切换芯片以及DC3.3V电路芯片均连接DC5V电源。

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