中国科学院上海高等研究院甘涛获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223284158U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422447156.6，技术领域涉及：G01N23/083；该实用新型一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统是由甘涛;李炯;张硕;陈雨;高倩设计研发完成，并于2024-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统。该系统包括：在X射线传播方向上依次设置的光源、快扫单色器、狭缝、第一电离室、样品室以及第二电离室，垂直于所述样品室的光轴线设置的荧光探测器或固体探测器，与所述样品室的末端连接的质谱仪；以及同时与第一、第二电离室和质谱仪相连的数据采集系统，该数据采集系统可获得样品的时间分辨XAS谱图信息，以及反应过程中反应物和产物实时变化的MS谱图信息。该系统结合了时间分辨同步辐射X射线吸收谱QXAFS的快速高精度结构和电子态分析能力以及质谱MS分析技术的高灵敏度物质实时检测能力，实现了对催化剂结构动态变化以及反应物和产物分布的实时监测。
本实用新型一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统在权利要求书中公布了：1.一种时间分辨同步辐射X射线吸收谱与质谱联用测试系统，其特征在于，包括：在X射线传播方向上依次设置的光源、快扫单色器、狭缝、第一电离室、样品室以及第二电离室，垂直于所述样品室的光轴线设置的荧光探测器或固体探测器，与所述样品室的末端连接的质谱仪；以及同时与第一、第二电离室和质谱仪相连的数据采集系统，该数据采集系统可获得样品的时间分辨XAS谱图信息，以及反应过程中反应物和产物实时变化的MS谱图信息。
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