北京纳米能源与系统研究所王中林获国家专利权
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龙图腾网获悉北京纳米能源与系统研究所申请的专利一种对象的外观探测系统、方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114545398B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210190684.0，技术领域涉及：G01S13/88；该发明授权一种对象的外观探测系统、方法、装置及电子设备是由王中林;唐伟设计研发完成，并于2022-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种对象的外观探测系统、方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本申请公开一种对象的外观探测系统、方法、装置及电子设备，属于雷达探测技术领域，该系统包括：反射板、雷达、电磁场探测器和计算设备，其中，反射板可对雷达发射的部分电磁波进行反射，雷达可接收反射板反射的第一电磁波和未被反射的第二电磁波探测到对象后的回波，电磁场探测器可测量第一电磁波和第二电磁波的回波干涉形成的磁场中不同位置处的磁场信息，然后，由计算设备读取电磁场探测器测量到的不同位置处的磁场信息，基于建立的磁场信息与电磁波透过率之间的映射关系，确定各位置处的磁场信息对应的电磁波透过率，基于各位置对应的电磁波透过率，构建虚拟介质，模拟电磁波穿过虚拟介质时的衍射过程，得到对象的三维外观数据并输出。
本发明授权一种对象的外观探测系统、方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种对象的外观探测系统，其特征在于，包括： 反射板，用于对雷达发射的部分电磁波进行反射； 所述雷达，用于发射电磁波，接收所述反射板反射的第一电磁波和未被所述反射板反射的第二电磁波探测到对象后的回波； 电磁场探测器，用于对所述第一电磁波和所述第二电磁波的回波干涉形成的磁场中不同位置处的磁场信息进行测量，每一位置处的磁场信息至少包括磁场强度； 计算设备，用于读取所述电磁场探测器测量到的不同位置处的磁场信息，基于建立的磁场信息与电磁波透过率之间的映射关系，确定各位置处的磁场信息对应的电磁波透过率；基于各位置对应的电磁波透过率，构建虚拟介质；模拟电磁波穿过所述虚拟介质时的衍射过程，得到所述对象的三维外观数据，输出所述三维外观数据。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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