杭州广立微电子股份有限公司蓝帆获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114487796B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111501691.X，技术领域涉及：G01R31/319；该发明授权一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片是由蓝帆;潘伟伟;杨慎知;郑勇军设计研发完成，并于2021-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片在说明书摘要公布了：本发明提供一种测试芯片中外围电路的设计方法，包括：获取测试芯片中器件的器件阵列信息、以及器件中选定的待测器件信息；确定用于摆放外围电路的外围电路区域；基于器件阵列的边缘行或和边缘列设计外围电路；在外围电路区域，为位于边缘行或和边缘列中的待测器件配置对应的外围电路单元，通过连接线将待测器件与对应的外围电路单元相连形成外围电路。该技术方案有益效果在于，该方法结合考虑器件阵列和外围电路单元进行协同规划，以优化外围电路的摆放设计，能在不影响外围电路的功能和性能的基础上，提升测试芯片的器件密度。还提供一种测试芯片。
本发明授权一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片在权利要求书中公布了：1.一种测试芯片中外围电路的设计方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取测试芯片中器件的器件阵列信息、以及所述器件中选定的待测器件信息； 确定所述测试芯片上用于摆放外围电路的外围电路区域； 基于所述器件阵列的边缘行或和边缘列设计外围电路，包括： 在所述外围电路区域，为位于边缘行或和边缘列中的待测器件配置对应的外围电路单元，并对所述外围电路单元进行位置排布，通过连接线将所述待测器件与对应的外围电路单元相连形成外围电路，用于通过外围电路控制所述器件阵列中指定的待测器件连通或者断开测试通路； 所述边缘行或和边缘列中的每个待测器件分别配置一个对应的外围电路单元。
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