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龙图腾网获悉大连达利凯普科技有限公司申请的专利应用于5G元件的谐振腔及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111751626B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010736819.X，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权应用于5G元件的谐振腔及测试方法是由许光;吴继伟;杨国兴设计研发完成，并于2020-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用于5G元件的谐振腔及测试方法在说明书摘要公布了：一种应用于5G元件的谐振腔及测试方法，属于谐振腔测试技术领域。方案如下：程序初始化，输入测试参数；输入谐振腔的校准参数；依次寻找第一至第八谐振点的频率，降低扫描时间，减小扫描范围，重新扫描，分别读取各谐振点的频率和Q值；计算分别计算每个谐振点的ESR值、CorrectedESR值、Cp值和Q值。有益效果：本发明所述的应用于5G元件的谐振腔测试方法通过使用矢量网络分析仪，可计算高Q电容3.5GHz以下各个谐振点的ESR值等参数，测试精度更高，测试效率更快。

本发明授权应用于5G元件的谐振腔及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种应用于5G元件的谐振腔测试方法，其特征在于，用于测试应用于5G元件的谐振腔，其包括：夹具柱塞1、中心导体3、衰减器4、精密电阻5、连接矢网一端口6、连接矢网二端口7、谐振腔主体8，所述夹具柱塞1可活动地安装在所述谐振腔主体8一端，所述中心导体3内置于所述谐振腔主体8，所述夹具柱塞1与中心导体3相对设置；所述衰减器4安装在所述谐振腔主体8的另一端，所述连接矢网一端口6和连接矢网二端口7与所述谐振腔主体8连接，所述精密电阻5与所述连接矢网一端口6连接，所述谐振腔内导体尺寸为波长、所述谐振腔测试频段为3.5GHz时，执行步骤如下： S1、使用矢量网络分析仪和Labview编写的控制程序控制测试； S2、依次寻找第一至第八谐振点的频率，降低扫描时间，减小扫描范围，重新扫描，分别读取各谐振点的频率和Q值； S3、分别计算每个谐振点的ESR值、CorrectedESR值、C值和Q值； ESR值的计算方法如下： 其中：ESR表示等效串联电阻，M表示测试电抗，QM表示测试频率下的Q值，f1表示实际测试谐振频率，Q1'表示在频率f1下的Q值，Rf表示在频率f下谐振腔的损耗，Z0表示特征阻抗，Z0＝75.75Ω，fM表示测试频率，f0'表示短路的频率值，表示接触电阻，f0表示谐振腔自身理想条件下的谐振频率，x'表示中间变量； 中间变量计算方法: 其中：Qoc2为第二开路谐振频率下的Q值，Qoc1为第一开路谐振频率下的Q值，foc1表示第一开路谐振频率，foc2表示第二开路谐振频率； CorrectedESR值的计算方法如下： 其中：ESRCORR表示修正的等效串联电阻，RT表示未修正的等效串联电阻，CF表示调节电容容值，C表示测试电容容值，ε0表示介电常数，r表示中心导体半径，d表示测试夹具长度，b表示测试电容半径，AUUT表示测试电容横截面积； C值的计算方法如下： C＝-1[2πf1Z0cotβ1l] β1l＝f1f090° 其中：β1表示测试电容相位，l表示电容长度，f1表示实际测试谐振频率，Z0表示特征阻抗，f0表示谐振腔自身理想条件下的谐振频率； Q值的计算方法如下： Q＝12πf1C×ESRCORR 其中：f1表示实际测试谐振频率，C表示测试电容容值。

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