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龙图腾网获悉江苏科丰电工材料有限公司申请的专利一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120470505B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510970847.0，技术领域涉及：G06F18/2433；该发明授权一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法及系统是由张建新;刘广乐;张燕设计研发完成，并于2025-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及数据集成技术领域，具体为一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法及系统，包括以下步骤，采集晶粒尺寸、位错密度和析出相数据，按加工区段、工艺阶段与材料批次分类，调整数据索引顺序，构建归属规则，形成微观结构参数集成值。本发明中，通过精细筛选应力突变点并结合形态组合区间，确保了应力响应的科学划分和异常区域的准确识别，利用曲率变化速率与拐点间距的计算，提高了异常点的检测精度，减少误判，应力增长趋势的详细分析与聚类分析的结合，优化了缺陷识别过程，提高了监测的针对性和质量评估的精度，使得有色金属锻件的质量监测更全面，增强了检测系统的可靠性和适用性。

本发明授权一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于传感器的有色金属锻件质量监测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：采集晶粒尺寸、位错密度和析出相数据，按加工区段、工艺阶段与材料批次分类，调整数据索引顺序，构建归属规则，形成微观结构参数集成值； S2：调用所述微观结构参数集成值，采集主轴传感器应力数据，按区段匹配位差密度，并归一化处理，根据晶粒尺寸和应力差值分类，筛选增幅突变点，建立形态组合关系，生成应力映射响应区间值； S3：调用所述应力映射响应区间值，结合边缘点位移数据，计算曲率变化速率，分析拐点间距，筛选异常点并叠加应力增幅量，判断曲率异常区域，获取曲率异常集中值； S4：调用所述曲率异常集中值，分析锻件轮廓应力监测数据，计算单位时间应力增长比值，构建增长曲线，结合应力映射响应值叠加分析，筛选应力持续增长区段并定位变化聚焦区域，获取应力增长聚焦区间值； 所述微观结构参数集成值包括晶粒尺寸参数、位错密度参数、析出相分布参数、区域分类索引和应力匹配索引，所述应力映射响应区间值包括等效应力数据、位差密度归一化值、应力差值分类值、增幅突变点和形态组合区间，所述曲率异常集中值包括曲率变化速率、拐点间距、异常点集、应力增幅量和结构响应值，所述应力增长聚焦区间值包括应力增长比值、增长曲线、基准线区间、连续增长区段和变化聚焦区域； 所述应力映射响应区间值的获取步骤为： S201：调用所述微观结构参数集成值，采集压力成形机主轴压应传感器输出的等效应力数据，并按区段编号匹配位错密度数据，将等效应力数据与位错密度数据进行数据格式调整，识别数据对应关系的准确性，获取应力与位错匹配数据集； S202：基于应力与位错匹配数据集，计算数据差值，并对差值进行归一化计算处理，按晶粒尺寸值与应力差值执行数据分类，将分类后数据依据增幅系数与耦合分布位置进行区段内变化的对比分析，采用公式： ； 计算不同区段的应力增幅突变值，并筛选增幅突变点，获取增幅突变点集合； 其中，代表区段与区段之间的应力增幅突变值，和分别为区段与的等效应力均值，和分别为区段与的位错密度值，为归一化调整因子，和分别为区段与的析出相分布比例； S203：基于所述增幅突变点集合，按位置建立形态组合区间，并计算每个形态组合区间内的等效应力变化范围，调整数据索引顺序，最终获取应力映射响应区间值； 所述方法还包括，S5：调用所述应力增长聚焦区间值，采集区域位差密度与结构趋势数据，计算变化比值，并结合应力突变幅度进行判断，识别应力集中点位，建立区域特征集合，并结合晶粒尺寸与位差分布序列交叉比对，归并缺陷类型，生成质量监测结果； 所述质量监测结果包括分布集中点位、区域特征集合、变化比值、应力突变幅度和位错分布序列； 所述质量监测结果的获取步骤为： S501：调用所述应力增长聚焦区间值，采集对应区域的位差密度数据与结构趋势数据，按时间序列排列数据，计算突变幅度值与形态变化密度，对每个测量点的位差密度进行计算，设某时间点处的位差密度为，相邻时间点处的位差密度为，则位差密度变化比值计算如下： ； 计算所有时间点的变化比值，获取位差密度变化比值； 其中，代表位差密度变化比值，代表时间点的位差密度，代表时间点的位差密度，代表测量时间点，代表相邻时间点，代表时间间隔； S502：基于所述位差密度变化比值，按变化比值与应力突变幅度进行组合判断，识别分布集中点位并建立区域特征集合，采用公式： ； 运算获取分布集中点位的特征值，并构建区域特征集合； 其中，代表测量点的特征指标值，代表各测量点的应力突变幅度，代表对应测量点的位差密度变化比值，代表平衡因子，防止分母趋于零，代表局部形态参数的特征值，代表对应区域的形态数据，代表测量点数，代表形态数据点数； S503：结合所述区域特征集合，对晶粒尺寸与位错分布序列进行交叉比对，判断区域内部的缺陷类别，统计区域特征集合中的测量点分布情况，并计算异常点的比对偏差，分析结构缺陷的类型，获取质量监测结果。

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