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龙图腾网获悉北京大学申请的专利一种测量(n, α)反应角度微分截面的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120370376B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510869767.6，技术领域涉及：G01T1/185；该发明授权一种测量(n, α)反应角度微分截面的方法是由夏聪;张国辉;刘杰;邬泽鹏;白浩帆;任文凯设计研发完成，并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量(n, α)反应角度微分截面的方法在说明书摘要公布了：本发明公布了一种测量n,α反应角度微分截面的方法，属于核数据测量技术领域。本发明利用屏栅电离室和气体样品测量得到阳极脉冲上升时间和阳极幅度，通过阳极脉冲上升时间得到核反应事件径迹平行于中子入射方向上的投影长度，一个投影长度对应两个α粒子出射角度；而阳极幅度的不同则可以区分投影长度相同但α粒子出射角度不同的事件，因此根据阳极幅度‑阳极脉冲上升时间二维谱，通过其上的V字形事件区划分不同α粒子出射角度的事件来得到事件数，结合待测反应核数和所对应的中子通量就能够得到待测反应角度微分截面。本发明可用于测量n,α反应的角度微分截面，具有待测样品核数多，探测效率高，不受探测器摆放角度限制的特点。

本发明授权一种测量(n, α)反应角度微分截面的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量n,α反应角度微分截面的方法，其特征在于，包括以下步骤： 1）根据待测核反应选择包含待测核的气体样品，并设计包含该气体样品的工作气体，要求所述工作气体在屏栅电离室中实验时具有PHD效应； 2）在屏栅电离室中充入所述工作气体进行在束实验，采集屏栅电离室的阴极信号、阳极信号和裂变信号； 3）分析采集到的阳极信号，得到每个阳极信号的脉冲上升时间和阳极幅度，并做出阳极幅度-阳极脉冲上升时间二维谱； 4）在阳极幅度-阳极脉冲上升时间二维谱上待测事件区呈现为V字形区域，α粒子的出射角度θ α 的不同导致不同的事件在V字形区域的不同位置，确定角度的分bin方式，将V字形区域划分为多个bin，某个bin即为某个角度区间所对应的事件区； 5）利用式（2）计算每个bin的上下边界所对应的阳极脉冲上升时间T r，从而完成分bin； （2） 其中，l e 为电子团平行于电场方向的投影长度，v g为电子穿过栅极时的电子漂移速率，t ga为电子在栅极和阳极之间的漂移时间； 6）统计每个bin中的事件数，并根据实际的实验条件对本底和或低能中子造成的干扰进行修正，并计算α粒子的探测效率； 7）确定实验中的中子通量和核数，并计算角度微分截面。

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