北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司张永昌获国家专利权
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龙图腾网获悉北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司申请的专利一种MCU芯片适配评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120276352B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510750053.3，技术领域涉及：G05B19/042；该发明授权一种MCU芯片适配评估方法是由张永昌;李兆麟设计研发完成，并于2025-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种MCU芯片适配评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种MCU芯片适配评估方法。该方法包括：基于车辆控制器的各应用场景确定对应的MCU算力需求；基于计算要素对各MCU算力需求进行抽象，以构建各应用场景对应的MCU运算考核测试用例；基于各应用场景对MCU算力的需求占比确定各MCU运算考核测试用例的考核比例或权重，基于考核比例或权重将各测试用例组合，形成组合测试用例；基于组合测试用例对各MCU芯片分别进行MCU运算考核测试，得到各MCU芯片完成组合测试用例对应的典型算法的最少执行时间；基于最少执行时间，确定最适配的MCU芯片。本发明实现基于车辆控制器应用场景计算需求的MCU芯片算力适配性评估，可以降低MCU选型适配时间和费用成本。
本发明授权一种MCU芯片适配评估方法在权利要求书中公布了：1.一种MCU芯片适配评估方法，其特征在于，包括： 基于车辆控制器的各应用场景确定对应的MCU算力需求； 基于计算范式、计算量和存储量对各所述MCU算力需求进行抽象，以构建各所述应用场景对应的MCU运算考核测试用例；基于各所述应用场景对MCU算力的需求占比确定各所述MCU运算考核测试用例的考核比例或权重； 基于所述考核比例或权重将各所述MCU运算考核测试用例组合，形成组合测试用例；基于所述组合测试用例对各MCU芯片分别进行MCU运算考核测试，得到各MCU芯片完成组合测试用例对应的典型算法的最少执行时间；基于各MCU芯片完成组合测试用例典型算法的最少执行时间，确定最适配的MCU芯片； 通过硬件在环系统将所述组合测试用例载入MCU芯片，并控制MCU芯片执行所述组合测试用例的相关运算。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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