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龙图腾网获悉北京芯可鉴科技有限公司申请的专利芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120217911B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510713167.0，技术领域涉及：G06F30/27；该发明授权芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备是由王立城;王文赫;董广智;赵文仙;刘佳艺;李纤纤;贺骏;聂闻琪;张陆设计研发完成，并于2025-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备，涉及芯片可靠性测试技术领域。其中方法包括：根据待测芯片的芯片类型和试验项目特点确定试验项目模型，所述试验项目模型包括针对所述待测芯片的试验项目，试验项目的试验成本以及试验项目的能够决定整体试验结果的项目结果的发生概率；根据所述试验项目模型建立试验项目数据表；基于熵权法对所述试验项目数据表中的试验项目进行量化评价，得到试验项目对应的综合指标；基于贪婪算法和所述综合指标选择不同时间阶段的试验项目，生成试验方案。本申请提供的实施方式提升了试验方案设计的科学性。

本发明授权芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片可靠性试验方法，其特征在于，该方法包括： 根据待测芯片的芯片类型和试验项目特点确定试验项目模型，所述试验项目模型包括针对所述待测芯片的试验项目，试验项目的试验成本以及试验项目的能够决定整体试验结果的项目结果的发生概率；所述试验项目的试验成本包括试验周期和试验经济成本；所述能够决定整体试验结果的项目结果包括：检测到导致整体试验结果不合格的多种缺陷中的至少一种缺陷； 根据所述试验项目模型建立试验项目数据表，所述试验项目数据表中的项目根据所述试验项目模型中的内容进行确定，所述试验项目数据表中的数值根据历史数据进行确定； 基于熵权法对所述试验项目数据表中的试验项目进行量化评价，得到试验项目对应的综合指标； 基于贪婪算法和所述综合指标选择不同时间阶段的试验项目，生成试验方案，包括：将试验方案分成若干时间阶段，每一时间阶段用于执行一个待测芯片的一个试验项目；从第一时间阶段开始，每一时间阶段均执行以下步骤：选择每一待测芯片的尚未列入试验方案中的综合指标最大的试验项目为待选试验项目；在所述待选试验项目满足实施条件的情况下，将所述待选试验项目列入当前时间阶段的试验方案；在所述若干时间阶段均执行以上步骤后，得到所述试验方案。

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