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龙图腾网获悉成都中航华测科技有限公司申请的专利一种存储器读写一致性测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120236640B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510716460.2，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权一种存储器读写一致性测试方法及系统是由虞从军;李明聪;李志江设计研发完成，并于2025-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器读写一致性测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储器读写一致性测试方法及系统，涉及存储器测试技术领域。包括有：S1：进行串扰耦合建模：根据所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵，构建层间串扰耦合传递函数；S2：构建三维失效概率模型：获取平面耦合错误分布图，并根据所述层间串扰耦合传递函数，生成层间串扰系数矩阵；S3：标识电磁耦合热点区域：根据所述三维失效概率，确定出每个区域的风险等级，并根据所述风险等级，设置测试参数，并通过所述测试参数，对待测存储器进行读写测试。本发明实现了跨层干扰的三维量化建模，使得检测范围从平面扩展至立体结构，解决了传统方法对层间电磁耦合的盲区。

本发明授权一种存储器读写一致性测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种存储器读写一致性测试方法，其特征在于，包括有： S1：进行串扰耦合建模：根据晶体管SPICE模型和晶圆测试数据，构建量子隧穿电流曲线，根据存储阵列的GDSII版图数据，构建三维寄生参数矩阵，同时根据所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵，构建层间串扰耦合传递函数； S2：构建三维失效概率模型：根据所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵，获取平面耦合错误分布图，并根据所述层间串扰耦合传递函数，生成层间串扰系数矩阵，且通过所述平面耦合错误分布图和层间串扰系数矩阵，建立三维失效概率模型，包括有： S2.1：获取测试结果：通过强化学习算法，对所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵进行优化，同时根据所述层间串扰耦合传递函数，获取测试向量； S2.2：获取分布图：根据所述测试向量对待测存储器进行读写测试，并根据测试结果，获取层间串扰系数，同时通过所述测试结果和层间串扰系数，构建平面耦合错误分布图和层间串扰系数矩阵； S2.3：确定三维失效热点：根据所述平面耦合错误分布图和层间串扰系数矩阵，进行空间插值，获取三维失效概率； S3：标识电磁耦合热点区域：根据所述三维失效概率，确定出每个区域的风险等级，并根据所述风险等级，设置测试参数，并通过所述测试参数，对待测存储器进行读写测试。

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