上海亿瑞芯电子科技有限公司陈浩牧获国家专利权
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龙图腾网获悉上海亿瑞芯电子科技有限公司申请的专利一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120214547B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510694914.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质是由陈浩牧设计研发完成，并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供的一种测试向量生成方法，包括：获取芯片功能测试指令，并解析出功能测试指令包含的任务内容以及任务输入参数；基于所述任务内容选择相应的指令模板，调用所述指令模板，赋值指令寄存器数值，并依据任务输入参数中对应的地址参数和写入读取数据，得到TDI数据序列以及TDO数据；所述指令模板基于jtag协议、ADI协议以及芯片测试电路的数据传输协议创建得到，所述指令模板关联jtag测试驱动函数；依据指令寄存器数值、TDI数据序列以及TDO数据调用所述jtag测试驱动函数，将功能测试指令内容输出为TDI信号、TCK信号、TMS信号及TDO信号在不同时刻下的组合，本发明还提供了一种测试向量生成系统及计算机可读存储介质。
本发明授权一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测试向量生成方法，其特征在于，所述方法包括： 获取芯片功能测试指令，并解析出功能测试指令包含的任务内容以及任务输入参数； 基于所述任务内容选择相应的指令模板，调用所述指令模板，赋值指令寄存器数值，并依据任务输入参数中对应的地址参数和写入读取数据，得到TDI数据序列以及TDO数据；所述指令模板基于jtag协议、ADI协议以及芯片测试电路的数据传输协议创建得到，所述指令模板关联jtag测试驱动函数；其中，根据所述jtag协议、ADI协议以及芯片测试电路的数据传输协议设计相应的外围测试电路，根据芯片的外围测试电路所实现的功能的对应反向推导过程，设计参数的传递过程，进而创建具体的指令模板； 依据指令寄存器数值、TDI数据序列以及TDO数据调用所述jtag测试驱动函数，将功能测试指令内容输出为TDI信号、TCK信号、TMS信号及TDO信号在不同时刻下的组合。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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