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龙图腾网获悉天津金海通半导体设备股份有限公司申请的专利一种芯片PD自动化测试治具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119565948B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510127880.7，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种芯片PD自动化测试治具是由张洪河;彭煜设计研发完成，并于2025-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片PD自动化测试治具在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片PD自动化测试治具，包括联络单元主体组件，所述联络单元主体组件顶部安装测试对接组件，测试对接组件上方安装浮动头组件，联络单元主体组件通过测试对接组件安装至测试芯片分选机，测试芯片分选机两侧分别设有入料小车组件和出料小车。本发明有益效果：本测试治具可应用于半导体自动化行业，能够针对大功率和高电压芯片进行自动化测试，还能够抑制芯片PD测试放电现象，此外能够根据市场需要提升测试的效率，结构更为紧凑，还能够大大降低成本，避免操作人员受伤，并实现全自动化的测试流程，此外，本测试治具还能够朝着更高的自动化水平、安全性、智能化和高效能方向发展。

本发明授权一种芯片PD自动化测试治具在权利要求书中公布了：1.一种芯片PD自动化测试治具，其特征在于：包括联络单元主体组件100，所述联络单元主体组件100顶部安装测试对接组件500，测试对接组件500上方安装浮动头组件200，联络单元主体组件100通过测试对接组件500安装至测试芯片分选机，测试芯片分选机两侧分别设有入料小车组件300和出料小车400； 所述联络单元主体组件100包括单元主体金属外框101、单元主体通气板102、芯片测试插座103、对接组件定位销104、嵌套定位销105、硬限位块108、嵌套密封圈109、垫高块110、对接组件密封圈111和测试插座密封圈112，所述单元主体金属外框101表面安装单元主体通气板102，单元主体通气板102一侧分别安装对接组件定位销104和对接组件密封圈111，单元主体通气板102上还安装有嵌套定位销105、硬限位块108，且嵌套定位销105穿过硬限位块108安装至浮动头组件200，硬限位块108上方安装嵌套密封圈109，单元主体金属外框101下方安装垫高块110，单元主体金属外框101一侧安装芯片测试插座103，芯片测试插座103上安装测试插座密封圈112； 硬限位块108一侧还设有凸台结构1082，凸台结构1082用于在阻隔芯片PD测试时，产生的电弧通过垫片本体107将电流引出； 芯片测试插座103还开设有出气口1032，浮动头组件200包括管腿压块201，管腿压块201上开设有若干过气孔2011，保压气路由出气口1032出来后，通过过气孔2011吹在测试芯片上，让空气流动起来芯片测试分选机充气时，单元主体通气板102会将气压传送至通气口1021处，此时芯片测试插座103将通气口1021的气压对接传输至芯片测试插座103的出气口1032处，气路从单元主体通气板102过来后气体由此流出，当浮动头组件200下压时，会在芯片测试插座103凹槽内形成一个密闭空间；即测试时，形成一个密闭空间，往密闭空间充入气体，气体压强越大，对放电现象抑制效果越好。

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