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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利一种多道微波诊断系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119924807B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510123106.9，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权一种多道微波诊断系统是由周楚;史文祥;刘阿娣;庄革设计研发完成，并于2025-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多道微波诊断系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多道微波诊断系统，包括多道微波产生和发射系统、多普勒背向散射计DBS系统、交叉极化散射诊断CPS系统、可调频率的参考源，多道微波产生和发射系统用于产生多道散射信号；多普勒背向散射计DBS系统与交叉极化散射诊断CPS系统集成设置，共用所述多道微波产生和发射系统，实现同步测量聚变装置内部多个位置的局域密度涨落和磁涨落；使用可调频率的参考源与接收的多道散射信号混频，根据实验需求来选择需要测量的目标频率点。上述系统能够解决同步测量聚变装置内部多个位置局域密度涨落和磁涨落的问题，同时解决梳状谱发生器方案存在频率峰值间功率分配不均的问题。

本发明授权一种多道微波诊断系统在权利要求书中公布了：1.一种多道微波诊断系统，其特征在于，所述系统包括多道微波产生和发射系统、多普勒背向散射计DBS系统、交叉极化散射诊断CPS系统、可调频率的参考源，其中： 多道微波产生和发射系统用于产生多道散射信号； 所述多普勒背向散射计DBS系统与交叉极化散射诊断CPS系统集成设置，共用所述多道微波产生和发射系统，实现同步测量聚变装置内部多个位置的局域密度涨落和磁涨落；所述多普勒背向散射计DBS系统与交叉极化散射诊断CPS系统实现同步测量聚变装置内部多个位置的局域密度涨落和磁涨落的过程具体为： 同一探测频率的微波在聚变装置内等离子体截止层附近同时发生多普勒背向散射过程和交叉极化散射过程，其中： 对于多普勒背向散射过程，根据布拉格散射公式： ； 是入射波数，根据入射微波计算得到；是散射波数，背向散射过程中；是测量到的密度涨落波数； 通过追踪探测微波在聚变装置内等离子体中的波迹计算得到多普勒背向散射计测量到的密度涨落的波数和截止位置信息，同时截止层的运动将引入多普勒频移，测量得到DBS多普勒频移，测量到密度涨落的运动速度，从而实现测量聚变装置内部局域密度涨落； 对于交叉极化散射过程，根据动量守恒： ； 截止层附近的磁涨落会垂直改变入射微波的极化方向，由于交叉极化散射发生的时刻点和位置与多普勒背向散射过程几乎是一致的，因此与密度涨落的测量位置一样能使用射线追踪程序得到； 同时磁涨落波数也满足关系：，通过测量得到CPS多普勒频移，代入DBS系统测量到的密度涨落的运动速度，测量到实际的密度涨落波数，从而实现测量聚变装置内部局域磁涨落； 其中，所述交叉极化散射诊断CPS系统不仅用于测量准局域磁涨落，还能同时测量到不同径向位置磁涨落的径向分布； 使用可调频率的参考源与接收的多道散射信号混频，根据实验需求来选择需要测量的目标频率点，其中： 可调频率的参考源发出的参考信号分别与DBS系统和CPS系统的接收信号混合得到中频信号，作为IQ混频器的RF输入；参考信号与参考信号混频器中的发射信号混合得到中频信号，经过功率分配器分为两道分别进入DBS系统和CPS系统，作为IQ混频器的LO输入； 参考路和接收路的中频信号均在IQ混频器中被解调成IQ信号，IQ信号由高速数据采集系统采集。

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