中国科学院国家天文台高思齐获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院国家天文台申请的专利一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119394592B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411463441.5，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法是由高思齐;姜爱民;陈保存设计研发完成，并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法，具体为：在系统中不存在合光成像分系统时，利用可移动的基线测量望远镜分别对各个变基线后的子孔径的出瞳和基准光阑上已知位置坐标的2个基准孔同时成像，利用2个基准孔确定坐标系，在该坐标系内分别解算各个子孔径的出瞳形心坐标，根据已知的子孔径的结构参数，计算出各个子孔径的入瞳坐标；在系统中存在合光成像分系统时，利用同一可移动的基线测量望远镜分别对各个变基线后的合光望远镜入瞳和基准光阑上已知位置坐标的2个基准孔同时成像，利用2个基准孔确定坐标系，在该坐标系内分别解算各个合光望远镜入瞳形心坐标；上述子孔径的入瞳坐标和合光望远镜入瞳坐标与其理论位置坐标对比，差值即为基线映射误差。本发明为光学合成孔径成像系统基线映射误差的测量提供了解决方法。
本发明授权一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法在权利要求书中公布了：1.一种光学合成孔径成像系统基线精密测量方法，其特征在于，所述方法具体为： 在系统中不存在合光成像分系统时，利用可移动的基线测量望远镜分别对各个变基线后的子孔径的出瞳和基准光阑上已知位置坐标的2个基准孔同时成像，通过已知位置坐标的2个基准孔建立坐标系，在坐标系内确定各个子孔径的出瞳形心坐标，根据子孔径的结构参数，计算出各个子孔径的入瞳坐标，即为系统的入瞳坐标； 在系统中存在合光成像分系统时，利用同一可移动的基线测量望远镜分别对各个变基线后的合光望远镜入瞳和基准光阑上已知位置坐标的2个基准孔同时成像，通过已知位置坐标的2个基准孔建立坐标系，在坐标系内确定各个合光望远镜入瞳形心坐标，即为系统的出瞳坐标； 上述系统入瞳坐标和系统出瞳坐标与其理论位置坐标对比，差值即为基线映射误差。
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