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龙图腾网获悉山东大学申请的专利一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119085841B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311497054.9，技术领域涉及：G01J1/42；该发明授权一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统及方法是由杨忠明;毕雨鑫;何伟林;刘兆军设计研发完成，并于2023-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统及方法，属于光学精密测试技术领域，包括待测激光器、反射镜A、快反镜A、反射镜B、反射镜C、扭称和基于涡旋光自共轭干涉的微位移测量系统，反射镜C和反射镜B相对于扭称对称分布；基于涡旋光自共轭干涉的微位移测量系统位于扭称下方，用于通过涡旋光花瓣状干涉图样的角度旋转，倒推得到待测激光的功率大小；本发明通过将超大激光功率的测量转化为位移量，再将微小位移量通过扭秤传递后经由涡旋光的自共轭干涉，可以通过花瓣状干涉图样的旋转角度获得微小位移量，从而得到激光功率数值。本发明具有可行性高、结构新颖、出射光束实时监测、测量精度高等优点。

本发明授权一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于扭秤测量的涡旋光干涉的超大激光功率检测系统，其特征在于，包括待测激光器、反射镜A、快反镜A、反射镜B、反射镜C、扭秤和基于涡旋光自共轭干涉的微位移测量系统，反射镜B安装在扭秤一侧，反射镜C安装在扭秤的另一侧，反射镜C和反射镜B相对于扭秤对称分布； 所述基于涡旋光自共轭干涉的微位移测量系统位于扭秤下方，包括快反镜B、测量激光器、扩束准直系统、14波片、涡旋波片、分束器A、分束器B、道威棱镜、反射镜D、分束器C和光电探测器； 待测激光器发出光束后经反射镜A入射到反射镜B上，经过快反镜A对光路校准后出射，位于扭秤两侧的反射镜B与反射镜C做反向等距位移；测量激光器发出光束依次经扩束准直系统、14波片、涡旋波片形成涡旋光，经分束器A分束形成测试光和参考光，参考光经分束器C到达光电探测器；测试光经分束器B及快反镜B到达反射镜C，再由反射镜C及快反镜B反射回到分束器B，依次经过道威棱镜、反射镜D、分束器C到达光电探测器，参考光和携带扭秤一端反射镜C位移信息的测试光在光电探测器处形成干涉，得到花瓣状干涉图。

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