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龙图腾网获悉西安交通大学申请的专利一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116500667B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310467439.4，技术领域涉及：G01T1/36；该发明授权一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法是由石桓通;张沛洲;王一竹;李兴文;吴坚;陈立设计研发完成，并于2023-04-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法在说明书摘要公布了：本发明属于一种基于透射‑吸收法测量能谱的装置及其解谱方法，为了解决现有技术中采用叠片式滤片布置进行能谱测量时，能谱测量装置不易得到准确的吸收片能量沉积与入射光子能量的关系；现有的解谱方法存在若干问题；迭代法、微扰法、期望最大值法要求的初始能谱的准确性将极大影响求解效果；奇异值分解法在测量误差较大、求解能段较多时无法给出符合实际情况的解。本发明提供一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法，采用阵列式滤片‑吸收片布置方式，使得吸收片能量沉积与入射光子能量之间的关系易于计算；另外，解谱方法中，给出了一种基于吉洪诺夫正则化的能谱求解方法，可以通过合并多组解及相应的修正，得到更精细的能谱结果。

本发明授权一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法在权利要求书中公布了：1.一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置，其特征在于：包括热释光剂量片装载盒（1）、金属箔（2）和滤片盖（3）； 所述热释光剂量片装载盒（1）前表面设有剂量片放置槽组（4），剂量片放置槽组（4）为至少四个且呈n×n列设置，n为大于等于2的整数；所述剂量片放置槽组（4）包括若干剂量片放置槽（5）； 所述金属箔（2）前表面设有a个滤片（6）和一个空白区（12），所述热释光剂量片装载盒（1）固定于金属箔（2）的后表面，热释光剂量片装载盒（1）前表面朝向金属箔（2）后表面，a+1=n 2，滤片（6）和空白区（12）分别与剂量片放置槽组（4）的位置和尺寸一一对应；滤片（6）的种类与滤片（6）的数量相同； a个所述滤片（6）形成的滤片组合，通过以下方式确定： Sx，通过下式计算多组滤片组合对应的响应矩阵的条件数： R=1.6×10-11·E 0·exp[-μρ 1x 1]·{1-exp[-μ enρ 2x 2]}ρ 2 V 其中R为剂量片响应，单位为rad光子；μρ 1为滤片对应光子能量E 0的质量衰减系数，μρ 1的单位为cm2g，E 0的单位为keV；x 1为滤片的面密度，单位为gcm2；μ enρ 2为剂量片主体材料LiF对应光子能量E 0的质量能量吸收系数，μ enρ 2的单位为cm2g；x 2为剂量片材质的面密度，单位为gcm2；ρ 2为剂量片材质的密度，单位为gcm3；V为剂量片的体积，单位为cm3； Sy，选取条件数最小时对应的滤片组合； 所述滤片盖（3）开设有前后贯穿的第一通孔，第一通孔内设有多个格挡（7），用于将第一通孔分割为多个子区域（8）；所述金属箔（2）固定于滤片盖（3）后表面，各滤片（6）和空白区（12）分别位于各子区域（8）内，且滤片（6）和空白区（12）分别与对应子区域（8）相适配。

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