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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第二十四研究所申请的专利基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114371393B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210029935.7，技术领域涉及：G01R31/3181；该发明授权基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法是由吴兆希;罗俊;谭骁洪;林震;岑政;李胜玉;余航设计研发完成，并于2022-01-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法，包括在常温、最低和最高工作温度对模拟集成电路样品进行电性能测试；依次使环境温度从常温开始向低温工作极限温度和高温工作极限温度步进，并进行在线测试；找到变化幅度最大的参数作为敏感参数，并找出敏感参数变化最大时对应的温度TA；在温度TA对模拟集成电路样品进行温度应力累积试验；在最低和最高工作温度之间进行温度循环试验；在常温下对模拟集成电路样品的敏感参数进行测试，并与之前的测试结果进行对比。本发明中，对传统的HALT试验技术进行改进，能够更准确、高效率地激发出模拟集成电路的潜在缺陷，为产品的设计改进提供依据，提高产品的可靠性水平。

本发明授权基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法在权利要求书中公布了：1.一种基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、分别在常温、规范规定的最低工作温度TL0和规范规定的最高工作温度TH0的环境下对模拟集成电路样品进行电性能测试； S2、设定低温极限偏离温度T0，以TL0-T0的温度作为模拟集成电路样品的低温工作极限温度TL1，使环境温度从常温开始向TL1步进，并在步进过程的每一温度点稳定第一预设时间后对模拟集成电路样品的电性能参数进行在线测试；其中，所述第一预设时间为1h～2h； S3、设定高温极限偏离温度T1，以TH0+T1的温度作为模拟集成电路样品的高温工作极限温度TH1，使环境温度从常温开始向TH1步进，并在步进过程的每一温度点稳定第二预设时间后对模拟集成电路样品的电性能参数进行在线测试； S4、根据S2步骤和S3步骤的测试结果将模拟集成电路样品在线测试的电性能参数分别绘制变化曲线，找到试验过程中变化幅度最大的参数作为敏感参数，并找出敏感参数变化最大时对应的温度TA； S5、在温度TA对模拟集成电路样品进行温度应力累积试验，并在试验过程中对模拟集成电路样品的敏感参数进行在线测试；其中，在温度TA对模拟集成电路样品进行温度应力累积试验的持续时间为24h～72h； S6、进行温度循环试验；使环境温度在TL0和TH0之间以预设的温度变化速率循环变化预定的次数，且当环境温度为TL0或TH0时停留第三预设时间并对模拟集成电路样品的敏感参数进行在线测试； S7、在常温下对模拟集成电路样品的敏感参数进行测试，并与S1步骤中模拟集成电路样品的敏感参数在常温下测试结果进行对比； S8、结束可靠性试验。

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