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龙图腾网获悉美新半导体(天津)有限公司申请的专利一种离面检测陀螺仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113310478B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110699530.X，技术领域涉及：G01C19/5656；该发明授权一种离面检测陀螺仪是由丁希聪;凌方舟;蒋乐跃;储莉玲设计研发完成，并于2021-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种离面检测陀螺仪在说明书摘要公布了：本发明提供一种离面检测陀螺仪，其包括：左框架结构，其位于中心点的左侧，其能够沿Y轴进行谐振运动；右框架结构，其位于中心点的右侧，其能够沿Y轴进行与左框架结构反向的谐振运动；左移动质量块，其位于左框架结构的第一空间内，其通过第一倾斜挠性梁与左框架结构相连；左敏感质量块，其位于左框架结构的第一空间内，其通过第一敏感挠性梁与左移动质量块相连；右移动质量块，其位于右框架结构的第二空间内，其通过第二倾斜挠性梁与右框架结构相连；右敏感质量块，其位于右框架结构的第二空间内，其通过第二敏感挠性梁与右移动质量块相连。与现有技术相比，本发明设计合理紧凑，可靠性好，工艺简单，检测精度高。

本发明授权一种离面检测陀螺仪在权利要求书中公布了：1.一种离面检测陀螺仪，其特征在于，其包括： 左框架结构，其位于中心点A的左侧，其内定义有第一空间，所述左框架结构能够沿Y轴进行谐振运动； 右框架结构，其位于所述中心点A的右侧，其内定义有第二空间，所述右框架结构与所述左框架结构平行且间隔预定距离，其能够沿Y轴进行与所述左框架结构反向的谐振运动； 左移动质量块，其位于所述左框架结构的第一空间内，其通过第一倾斜挠性梁与所述左框架结构相连； 左敏感质量块，其位于所述左框架结构的第一空间内，其通过第一敏感挠性梁与所述左移动质量块相连； 右移动质量块，其位于所述右框架结构的第二空间内，其通过第二倾斜挠性梁与所述右框架结构相连； 右敏感质量块，其位于所述右框架结构的第二空间内，其通过第二敏感挠性梁与所述右移动质量块相连； 耦合梁锚点，其位于所述左框架结构和右框架结构之间； 耦合梁，其与所述耦合梁锚点相连，且所述耦合梁连接于所述左框架结构和右框架结构之间，所述耦合梁的设置促使所述左框架结构和右框架结构沿Y轴反向运动； 设置于所述左敏感质量块下方的第一敏感电极； 设置于所述右敏感质量块下方的第二敏感电极； 当感应到X轴角速度输入时，由于柯氏效应会产生柯氏力，带动左移动质量块和右移动质量块倾斜，带动所述左敏感质量块和所述右敏感质量块沿着Z轴方向发生反向运动，第一敏感电极检测与所述左敏感质量块的距离变化，第二敏感电极检测与所述右敏感质量块的距离变化，第一敏感电极和第二敏感电极的电容一个增大，一个减小，两者差分得到X轴角速度引起的电容变化，进而得到输入的X轴角速率大小， 其中，X轴和Y轴相互垂直并且定义了所述离面检测陀螺仪所在的平面，Z轴垂直于X轴和Y轴所定义的平面，X轴沿左右方向，Y轴沿上下方向，坐标原点为所述中心点A， 所述左框架结构和右框架结构均为一侧开口的半包围结构，且所述左框架结构和右框架结构的开口相对设置； 所述左框架结构和右框架结构均包括框架上部、框架下部和框架连接部，其中，所述框架连接部连接于所述框架上部和框架下部之间， 所述耦合梁锚点为两个，分别为第一耦合梁锚点和第二耦合梁锚点，所述第一耦合梁锚点位于所述左框架结构的框架上部和所述右框架结构的框架上部之间；所述第二耦合梁锚点位于所述左框架结构的框架下部和所述右框架结构的框架下部之间； 所述耦合梁为两个，分别为第一耦合梁和第二耦合梁，所述第一耦合梁与所述第一耦合梁锚点相连，所述第一耦合梁连接于所述左框架结构的框架上部和所述右框架结构的框架上部之间；所述第二耦合梁与所述第二耦合梁锚点相连，所述第二耦合梁连接于所述左框架结构的框架下部和所述右框架结构的框架下部之间， 所述第一耦合梁锚点和第二耦合梁锚点的截面形状为两脚鱼叉型，其形成有叉槽，所述叉槽的开口方向面向所述中心点A； 所述第一耦合梁和第二耦合梁均为E型结构，所述E型结构的开口方向背离所述中心点A，所述E型结构包括相互平行的第一变形梁、第二变形梁和第三变形梁，以及连接所述第一变形梁、第二变形梁和第三变形梁的支撑梁； 所述第一耦合梁的第一变形梁与所述左框架结构的框架上部相连，其第二变形梁容纳于所述第一耦合梁锚点的叉槽内，且与所述第一耦合梁锚点相连，其第三变形梁与所述右框架结构的框架上部相连； 所述第二耦合梁的第一变形梁与所述左框架结构的框架下部相连，其第二变形梁容纳于所述第二耦合梁锚点的叉槽内，且与所述第二耦合梁锚点相连，其第三变形梁与所述右框架结构的框架下部相连。

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